Applikazzjonijiet ta 'Mikroskopji Infrared f'Mikro-Apparat ta' l-Industrija Elettronika
Sfond Introduzzjoni
Bl-iżvilupp tan-nanoteknoloġija, il-metodu ta 'minjaturizzazzjoni minn fuq għal isfel tiegħu ġie applikat dejjem aktar fil-qasam tat-teknoloġija tas-semikondutturi. It-teknoloġija IC qabel kienet imsejħa teknoloġija "mikroelettronika" minħabba li d-daqs tat-transistors kien fuq l-iskala mikrometru (10⁻⁶ metri).
Madankollu, it-teknoloġija tas-semikondutturi tavvanza malajr, b'ġenerazzjoni ġdida li toħroġ kull sentejn u d-daqsijiet tal-karatteristiċi jiċkienu bin-nofs. Din hija l-Liġi ta’ Moore magħrufa. Madwar 15-il sena ilu, l-industrija tas-semikondutturi daħlet fl-era submicron, fejn id-dimensjonijiet huma iżgħar minn mikrometru wieħed, segwiti mill-era submicron profonda b'daqsijiet tal-karatteristiċi ferm taħt mikrometru wieħed. Sal-2001, id-dimensjonijiet tat-transistor kienu saħansitra waqgħu taħt 0.1 mikrometri, jiġifieri inqas minn 100 nanometru. Għalhekk ninsabu fl-era tan-nanoelettronika, u l-biċċa l-kbira taċ-ċirkwiti integrati (ICs) futuri se jiġu ffabbrikati bl-użu tan-nanoteknoloġija.
Rekwiżiti Tekniċi
Fil-preżent, il-mod ta 'falliment primarju tal-komponenti elettroniċi huwa falliment termali. L-istatistika turi li 55% tal-ħsarat fl-apparat elettroniku huma kkawżati minn temperaturi li jaqbżu l-limiti speċifikati. Hekk kif togħla t-temperatura, ir-rata ta 'falliment ta' apparat elettroniku tiżdied b'mod esponenzjali. B'mod ġenerali, l-affidabilità operattiva tal-komponenti elettroniċi hija estremament sensittiva għat-temperatura. Meta t-temperatura tal-apparat tkun fil-medda ta '70-80 grad, kull żieda ta' grad tnaqqas l-affidabbiltà b'5%. Għalhekk, huwa meħtieġ kejl rapidu u affidabbli tat-temperatura tal-komponenti. Hekk kif l-apparati semikondutturi jkomplu jiċkienu fid-daqs, jitqiegħdu talbiet ogħla fuq ir-riżoluzzjoni tat-temperatura u r-riżoluzzjoni spazjali tat-tagħmir ta 'spezzjoni.
