Id-differenza bejn mikroskopju elettroniku, mikroskopju tal-forza atomika u mikroskopju tal-iskannjar tal-mini
waħda. Karatteristiċi tal-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar Meta mqabbel mal-mikroskopju ottiku u l-mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni, il-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar għandu l-karatteristiċi li ġejjin:
(1) L-istruttura tal-wiċċ tal-kampjun tista 'tiġi osservata direttament, u d-daqs tal-kampjun jista' jkun kbir daqs 120mm × 80mm × 50mm.
(2) Il-proċess ta 'preparazzjoni tal-kampjun huwa sempliċi u m'għandux għalfejn jinqata' fi flieli irqaq.
(3) Il-kampjun jista 'jiġi tradott u mdawwar fi spazju tridimensjonali fil-kamra tal-kampjun, sabiex il-kampjun jista' jiġi osservat minn diversi angoli.
(4) Il-fond tal-kamp huwa kbir, u l-immaġni hija sħiħa ta 'tridimensjonalità. Il-fond tal-kamp tal-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar huwa mijiet ta 'darbiet akbar minn dak tal-mikroskopju ottiku u għexieren ta' darbiet akbar minn dak tal-mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni.
(5) Il-firxa ta 'ingrandiment tal-immaġni hija wiesgħa u r-riżoluzzjoni hija relattivament għolja. Jista 'jiġi eżaltat għaxar darbiet għal mijiet ta' eluf ta 'drabi, u bażikament jinkludi l-firxa ta' ingrandiment minn lenti, mikroskopju ottiku għal mikroskopju elettroniku ta 'trażmissjoni. Ir-riżoluzzjoni hija bejn mikroskopju ottiku u mikroskopju elettroniku ta 'trasmissjoni, sa 3nm.
(6) Il-ħsara u l-kontaminazzjoni tal-kampjun mir-raġġ tal-elettroni huma relattivament żgħar.
(7) Waqt li tiġi osservata l-morfoloġija, sinjali oħra mill-kampjun jistgħu jintużaw ukoll għall-analiżi tal-mikro-komponenti.
2. Mikroskopju tal-Forza Atomika
Atomic Force Microscope (AFM), strument analitiku li jista 'jintuża biex tistudja l-istruttura tal-wiċċ ta' materjali solidi, inklużi iżolaturi. Tistudja l-istruttura tal-wiċċ u l-proprjetajiet tas-sustanzi billi tiskopri l-interazzjoni interatomika estremament dgħajfa bejn il-wiċċ tal-kampjun li jrid jiġi ttestjat u element minjatura sensittiv għall-forza. Tarf wieħed ta 'par ta' microcantilever sensittivi għal forza dgħajfa huwa ffissat, u l-ponta ċkejkna tat-tarf l-ieħor hija qrib il-kampjun. F'dan iż-żmien, se jinteraġixxi miegħu, u l-forza tagħmel il-mikrocantilever jiddeforma jew ibiddel l-istat tal-moviment tiegħu. Meta tiskennja l-kampjun, uża s-sensor biex tiskopri dawn il-bidliet, u l-informazzjoni tad-distribuzzjoni tal-forza tista 'tinkiseb, sabiex tikseb l-informazzjoni tal-istruttura tat-topografija tal-wiċċ u l-informazzjoni dwar il-ħruxija tal-wiċċ b'riżoluzzjoni tan-nanometru.
Il-mikroskopija tal-forza atomika għandha ħafna vantaġġi fuq il-mikroskopija elettronika tal-iskannjar. B'differenza mill-mikroskopji elettroniċi, li jipprovdu biss immaġini bidimensjonali, l-AFMs jipprovdu mapep tridimensjonali veri tal-uċuħ. Fl-istess ħin, AFM ma teħtieġ l-ebda trattament speċjali tal-kampjun, bħal kisi tar-ram jew kisi tal-karbonju, li jista 'jikkawża ħsara irriversibbli lill-kampjun. It-tielet, il-mikroskopji elettroniċi jeħtieġ li joperaw taħt kundizzjonijiet ta 'vakwu għoli, filwaqt li mikroskopji tal-forza atomika jistgħu jaħdmu tajjeb taħt pressjoni normali u anke f'ambjenti likwidi. Dan jista 'jintuża biex jiġu studjati makromolekuli bijoloġiċi u anke tessuti bijoloġiċi ħajjin. Meta mqabbel mal-mikroskopju tal-iskannjar tal-mini (Scanning Tunneling Microscope), il-mikroskopju tal-forza atomika għandu applikabilità usa 'għaliex jista' josserva kampjuni mhux konduttivi. Il-mikroskopju tal-forza tal-iskannjar, li huwa użat ħafna fir-riċerka xjentifika u l-industrija, huwa bbażat fuq il-mikroskopju tal-forza atomika.
3. Mikroskopju tal-iskannjar tal-mini
① Il-mikroskopju tal-iskanjar tal-mini ta 'riżoluzzjoni għolja għandu riżoluzzjoni spazjali fil-livell atomiku, ir-riżoluzzjoni spazjali laterali tiegħu hija 1, u r-riżoluzzjoni lonġitudinali tagħha hija 0.1.
② Il-mikroskopju tal-iskannjar tal-mini jista 'jsib direttament l-istruttura tal-wiċċ tal-kampjun, u jista' jiġbed immaġni ta 'struttura tridimensjonali.
③ Il-mikroskopju tal-iskannjar tal-mini jista 'jsib l-istruttura tal-materja fil-vakwu, pressjoni atmosferika, arja, u anke soluzzjoni. Peress li m'hemm l-ebda raġġ ta 'elettroni ta' enerġija għolja, m'hemm l-ebda effett distruttiv fuq il-wiċċ (bħal radjazzjoni, ħsara tas-sħana, eċċ.), Għalhekk jista 'jistudja l-istruttura ta' makromolekuli bijoloġiċi u uċuħ tal-membrana taċ-ċelluli ħajjin taħt kundizzjonijiet fiżjoloġiċi, u l- kampjuni mhux se jiġu mħassra u jibqgħu intatti.
④ Il-veloċità tal-iskannjar tal-mikroskopju tal-iskannjar tal-mini hija mgħaġġla, iż-żmien għall-kisba tad-dejta huwa qasir, u l-immaġini huwa wkoll mgħaġġel, għalhekk huwa possibbli li titwettaq riċerka dinamika dwar il-proċessi tal-ħajja.
⑤ M'għandux bżonn l-ebda lenti u huwa żgħir fid-daqs. Xi nies isejħulu "mikroskopju tal-but".
