Issolvi Problemi EMI fid-Dominji tal-Ħin u tal-Frekwenza b'Oxxilloskopji Diġitali RTO
Iċ-ċavetta għad-dijanjosi EMI hija t-teknika FFT. Bil-funzjoni FFT ta 'oxxilloskopji tradizzjonali, huwa diffiċli li jiġu stabbiliti parametri fid-dominju tal-frekwenza u l-analiżi tal-ispettru tieħu żmien twil. Peress li l-interface FFT tal-oxxilloskopji R&S RTO hija bbażata fuq analizzatur tal-ispettru, l-utenti jistgħu jissettjaw direttament parametri, inklużi l-frekwenza tal-bidu, il-frekwenza tal-qtugħ, ir-riżoluzzjoni tal-bandwidth u t-tip ta 'ditekter, bħall-użu ta' analizzatur tal-ispettru.
It-teknoloġija FFT qawwija flimkien mal-fond kbir tal-memorja tal-oxxilloskopji RTO tippermetti lill-utent jistabbilixxi b'mod indipendenti l-parametri tad-dominju tal-ħin u tal-frekwenza, u jwettaq b'mod flessibbli analiżi kemm fil-qasam tal-ħin kif ukoll tal-frekwenza. Dawn il-karatteristiċi jippermettu lill-utent biex isib sorsi ta 'interferenza rradjata kemm jista' jkun malajr.
L-oxxilloskopji R&S RTO jużaw il-FFT Overlap għall-analiżi tad-dominju tal-frekwenza. It-teknika tal-FFT Overlap tippermetti sensittività għolja għal radjazzjoni spurja u kapaċi taqbad punti ta' frekwenza falza okkażjonali. L-oxxilloskopju l-ewwel jaqsam is-sinjal tad-dominju tal-ħin maqbud f'numru ta 'segmenti tal-ħin, u mbagħad iwettaq kalkoli FFT biex jikseb l-ispettru għal kull segment tal-ħin, li jaqbad sinjali spurju episodiċi ta' enerġija baxxa fl-ispettru.
Imbagħad, is-sinjali bi frekwenzi differenti ta 'okkorrenza huma mmarkati b'kuluri differenti, u l-ispettri analizzati mill-FFT tas-segmenti kollha tal-ħin huma kkombinati biex jiffurmaw spettru sħiħ.
Ir-radjazzjoni hija distinta mir-radjazzjoni episodika billi tittikkettjaha b'kuluri differenti. L-analiżi tal-ispettru bl-użu tat-teknika tal-kodifikazzjoni tal-kulur tagħti stampa perfetta tat-tip u l-frekwenza tal-emissjonijiet tal-EMI.
It-teknika tal-FFT bit-twieqi tippermetti lill-utent biex jippersonalizza tieqa tal-ħin fuq is-sinjal maqbud, iwettaq l-analiżi FFT fuq is-sinjali biss fit-tieqa tal-ħin, u billi jiżżerżaq it-tieqa, janalizza l-korrispondenza bejn kull segment tas-sinjal tad-dominju tal-ħin u l- spettru. Pereżempju, it-teknika tista 'tintuża biex tanalizza problema EMI minħabba overshoot tat-transistor f'provvista ta' enerġija li tinxtegħel. Wara li jidentifika l-punt problema, l-utent jista 'malajr jivverifika l-effett tar-rettifika.
L-għodda tal-mudell hija wkoll effettiva ħafna fl-analiżi ta 'problemi ta' radjazzjoni spurja. L-utenti jiddefinixxu mudelli fid-dominju tal-frekwenza u jistabbilixxuhom kif xieraq għas-sinjali li jofendu, sabiex ikunu jistgħu jiddeterminaw b'mod preċiż liema sinjali qed jikkawżaw vjolazzjonijiet spettrali. Anke għal sinjali maqbuda, l-utent jista 'jaġġusta l-parametri FFT, bħad-daqs tat-tieqa u r-riżoluzzjoni tal-frekwenza. Karatteristiċi qawwija bħal dawn jippermettu lill-utenti janalizzaw bir-reqqa l-emissjonijiet tal-EMI li huma diffiċli biex jinqabdu.
L-oxxilloskopji R&S RTO jistabbilixxu punt ta 'referenza ġdid għall-oxxilloskopji bil-karatteristiċi rikka ta' qbid u analiżi tagħhom. Fl-istess ħin, b'ħafna aċċessorji, bħas-sonda R&S HZ-15 near-field, tipprovdi soluzzjoni dijanjostika EMI kompluta.
