Prinċipji tal-Kompożizzjoni tal-Mikroskopju Elettroniku
Il-mikroskopju elettroniku jikkonsisti fi tliet partijiet: il-kanna tal-mera, is-sistema tal-vakwu u l-kabinett tal-enerġija. Il-kanna tal-lenti prinċipalment għandha pistola tal-elettroni, lenti tal-elettroni, detentur tal-kampjun, skrin fluworexxenti u mekkaniżmu tal-kamera u komponenti oħra, dawn il-komponenti huma ġeneralment immuntati minn fuq għal isfel f'kolonna; sistema tal-vakwu tikkonsisti minn pompa tal-vakwu mekkanika, pompa tad-diffużjoni u valv tal-vakwu, u permezz tal-pajp tal-ippumpjar konness mal-kanna tal-lenti; kabinett tal-provvista tal-enerġija jikkonsisti minn ġeneratur ta 'vultaġġ għoli, regolatur tal-kurrent ta' eċċitazzjoni u varjetà ta 'unità ta' kontroll regolatorju.
Il-lenti tal-elettroni hija l-aktar parti importanti tal-barmil tal-mikroskopju elettroniku, hija simetrika għall-assi tal-kanna tal-kamp elettriku spazjali jew il-kamp manjetiku sabiex il-binarju tal-elettroni għall-assi tal-formazzjoni tal-iffukar tar-rwol tal-ħġieġ lenti konvessa biex tagħmel ir-rwol tar-raġġ ta 'fokus tad-dawl huwa simili għar-rwol tal-ħġieġ, għalhekk tissejjaħ lenti tal-elettroni. Il-biċċa l-kbira tal-mikroskopji elettroniċi moderni jużaw lentijiet elettromanjetiċi, permezz ta 'kurrent ta' eċċitazzjoni DC stabbli ħafna permezz tal-coil b'żarbun tal-arblu ġġenerat mill-kamp manjetiku qawwi biex jiffoka l-elettroni.
Il-kanun tal-elettroni huwa komponent li jikkonsisti minn katodu sħun tat-tungstenu, xatba u katodu. Jarmi u jifforma raġġ ta 'elettroni b'veloċità uniformi, għalhekk l-istabbiltà tal-vultaġġ ta' aċċelerazzjoni hija meħtieġa li tkun mhux inqas minn parti waħda f'għaxart elef.
Mikroskopji elettroniċi jistgħu jinqasmu f'mikroskopji elettroniċi ta 'trażmissjoni, mikroskopji elettroniċi ta' skannjar, mikroskopji elettroniċi ta 'rifless u mikroskopji elettroniċi ta' emissjoni skond l-istruttura u l-użu tagħhom. Mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni spiss jintuża biex josserva dawk b'mikroskopji ordinarji ma jistgħux jiddistingwu l-istruttura fina tal-materjal; mikroskopju elettroniku tal-iskannjar huwa prinċipalment użat biex josserva l-morfoloġija ta 'uċuħ solidi, iżda wkoll mal-diffrattometru tar-raġġi X jew spettrometru tal-elettroni magħquda biex jikkostitwixxu l-mikro-elettron huwa ffurmat mill-kampjun tal-atomi għat-tifrix tar-raġġ tal-elettroni. Partijiet irqaq jew inqas densi tal-kampjun għandhom inqas tifrix tar-raġġ tal-elettroni, sabiex aktar elettroni jgħaddu mill-bar tad-dawl tal-lenti oġġettiva u jipparteċipaw fl-immaġini, li jidhru isbaħ fl-immaġni. Bil-maqlub, partijiet eħxen jew aktar densi tal-kampjun jidhru jiskuraw fl-immaġini. Jekk il-kampjun ikun oħxon jew dens wisq, il-kuntrast tal-immaġni jiddeterjora u jista 'saħansitra jiġi mħassar jew meqrud billi jassorbi l-enerġija mir-raġġ tal-elettroni.
Użi ta 'Mikroskopji Elettroniċi
Mikroskopji elettroniċi jistgħu jinqasmu f'mikroskopji elettroniċi ta 'trażmissjoni, mikroskopji elettroniċi ta' skannjar, mikroskopji elettroniċi ta 'rifless u mikroskopji elettroniċi ta' emissjoni skond l-istruttura u l-użu tagħhom. Mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni spiss jintuża biex josserva dawk b'mikroskopji ordinarji ma jistgħux jiddistingwu l-istruttura fina tal-materjal; Il-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar jintuża prinċipalment biex josserva l-morfoloġija tal-wiċċ solidu, iżda wkoll mad-diffrattometru tar-raġġi X jew spettrometru tal-elettroni magħquda biex jiffurmaw il-mikroprobe tal-elettroni, użat għall-analiżi tal-kompożizzjoni tal-materjal; mikroskopju elettroniku ta 'emissjoni għall-istudju tal-wiċċ ta' l-awto-emissjoni ta 'elettroni.
