Prinċipju u Struttura tal-Mikroskopju tal-Forza Atomika (AFM)
1 Unità ta' Sejbien tal-Forza
F'sistema Atomic Force Microscope (AFM), il-forza li għandha titkejjel hija l-forza ta 'van der Waals bejn l-atomi. F'din is-sistema jintuża mikro cantilever biex jiskopri varjazzjonijiet fil-forza interatomika. Cantilevers mikro għandhom parametri speċifikati bħal tul, wisa ', kostanti tar-rebbiegħa u ġeometrija tal-ponta. Sondi differenti jintgħażlu skont il-proprjetajiet tal-kampjun u l-modi operattivi.
2 Unità ta 'Sejbien ta' Pożizzjoni
Fis-sistema AFM, il-cantilever jiddevja ladarba sseħħ l-interazzjoni bejn il-ponta u l-kampjun. Meta raġġ tal-laser irradja t-tarf ħieles tal-cantilever, il-pożizzjoni tal-laser rifless tinbidel flimkien mad-deflessjoni tal-cantilever, u tiġġenera sinjal ta 'spostament. Detector tal-pożizzjoni tal-post tal-lejżer jirreġistra dan l-ispostament u jikkonvertih f'sinjal elettriku għall-ipproċessar tas-sinjali mill-kontrollur SPM.
3 Sistema ta' Feedback
Fis-sistema AFM, is-sinjali maqbuda mid-ditekter tal-lejżer jiġu mdaħħla fil-linja ta 'rispons bħala sinjali ta' aġġustament intern. Is-sistema ta 'feedback tmexxi l-iskaner, li ġeneralment ikun magħmul minn tubi taċ-ċeramika pjeżoelettriċi, biex jimxi b'mod xieraq sabiex iżżomm forza ta' interazzjoni kostanti bejn il-ponta u l-kampjun.
AFM jintegra t-tliet unitajiet ta 'hawn fuq biex jikkaratterizza l-proprjetajiet tal-wiċċ tal-kampjun: Il-cantilever mikro iħoss il-forza ta' interazzjoni bejn il-ponta u l-kampjun. Din il-forza tgħawweġ il-cantilever. Raġġ tal-lejżer jolqot it-tarf tal-cantilever; id-deflessjoni tbiddel id-dawl rifless u tipproduċi spostament. Id-ditekter tal-lejżer jirreġistra l-ispostament u jibgħat is-sinjal lis-sistema ta 'feedback għall-aġġustament. Fl-aħħarnett, il-karatteristiċi tal-wiċċ tal-kampjun jintwerew bħala immaġni.
