Analiżi tal-Mikroskopija Ottika (OM).
Prinċipju Tekniku
Il-prinċipju tal-immaġini tal-mikroskopju ottiku huwa li tuża l-irradjazzjoni tad-dawl viżibbli fuq il-wiċċ tal-kampjun biex tikkawża tixrid jew riflessjoni lokali biex jiffurmaw kuntrasti differenti, madankollu, minħabba li l-wavelength tad-dawl viżibbli huwa għoli daqs 4,000-7, 000 angstroms, huwa naturalment l-agħar f'termini ta 'riżoluzzjoni (jew rata diskriminatorja, riżoluzzjoni, li tirreferi għall-eqreb distanza bejn iż-żewġ punti li jistgħu jiġu diskriminati). Taħt tħaddim ġenerali, peress li r-rata ta 'diskriminazzjoni tal-għajn hija biss 0.2 mm, meta r-riżoluzzjoni ottima tal-mikroskopju ottiku hija biss 0.2 um, l-ingrandiment massimu teoretiku huwa biss 1, 000 X. L-ingrandiment huwa limitat, iżda l-kamp viżiv huwa, għall-kuntrarju, l-akbar fost kull tip ta 'sistemi ta' immaġini, li jispjega li l-osservazzjoni tal-mikroskopju ottiku tista ', fil-fatt, xorta tipprovdi ħafna ta’ informazzjoni strutturali preliminari.
Tipi ta' Magni
Analiżi ta' Applikazzjonijiet
Għalkemm l-ingrandiment u r-riżoluzzjoni tal-mikroskopji ottiċi ma jistgħux jissodisfaw il-ħtiġijiet ta 'osservazzjoni tal-wiċċ ta' ħafna materjali, għadhom jintużaw ħafna fl-applikazzjonijiet li ġejjin, bħal:
Osservazzjoni strutturali trasversali tal-komponenti;
Analiżi u osservazzjoni tal-istruttura tal-delay tat-tip pjan;
Osservazzjoni taż-Żona Ħielsa tal-Preċipitat;
Osservazzjoni ta 'allinjament fqir u indentazzjonijiet overetch;
Studju ta 'Ossidation Enhanced Stacking Faults (OSF).
