Metodi u Tekniki għall-Kejl tal-Kapaċitanza b'multimetru
1. Kejjel direttament bl-użu tal-modalità tal-kapaċità
Il-multimetru diġitali għandu l-funzjoni li jkejjel il-kapaċità, u l-firxa tiegħu hija maqsuma f'ħames livelli: 2000p, 20n, 200n, 2 μ, u 20 μ. Meta tkejjel, iż-żewġ pins tal-kapaċitatur skarikat jistgħu jiddaħħlu direttament fis-sokit Cx fuq il-bord tal-miter, u d-dejta tal-wiri tista 'tinqara wara li tagħżel il-firxa xierqa . 000p firxa, adattata għall-kejl ta' capacitors inqas minn 2000pF; Firxa 20n, adattata għall-kejl tal-kapaċità bejn 2000pF u 20nF; Firxa 200n, adattata għall-kejl tal-kapaċità bejn 20nF u 200nF; Livell 2 μ, adattat għall-kejl tal-kapaċità bejn 200nF u 2 μ F; 20 μ F huwa adattat għall-kejl tal-kapaċità bejn 2 μ F u 20 μ F.
L-esperjenza wriet li xi mudelli ta 'multimetri diġitali (bħal DT890B+) għandhom żbalji sinifikanti meta jkejlu capacitors ta' kapaċità żgħira taħt 50pF, u l-kejl ta 'capacitors taħt 20pF kważi m'għandu l-ebda valur ta' referenza. F'dan il-punt, il-metodu tas-serje jista 'jintuża biex ikejjel valuri ta' kapaċità żgħar. Il-metodu huwa li l-ewwel issib kapaċitatur b'kapaċità ta 'madwar 220pF, kejjel il-kapaċità attwali tagħha C1 b'multimetru diġitali, u mbagħad tgħaqqad il-kapaċitatur żgħir li għandu jiġi ttestjat miegħu biex tkejjel il-kapaċità totali tagħha C2. Id-differenza bejn it-tnejn (C1-C2) hija l-kapaċità tal-kapaċitatur żgħir li għandu jiġi ttestjat. Dan il-metodu huwa preċiż ħafna għall-kejl ta 'capacitance żgħira ta' 1-20pF.
2. Kejjel bil-mod ta 'reżistenza
Il-prattika wriet li l-proċess tal-iċċarġjar tal-capacitors jista 'jiġi osservat ukoll bl-użu ta' multimeter diġitali, li fil-fatt jirrifletti l-bidliet fil-vultaġġ tal-iċċarġjar fi kwantitajiet diġitali diskreti. Jekk ir-rata tal-kejl ta 'multimetru diġitali hija n darbiet kull sekonda, allura matul il-proċess ta' osservazzjoni tal-iċċarġjar ta 'capacitor, n qari indipendenti u li jiżdied b'mod sekwenzjali jista' jidher kull sekonda. Ibbażat fuq il-karatteristika tal-wiri ta 'multimetru diġitali, huwa possibbli li tinstab il-kwalità tal-kapaċitaturi u tiġi stmata d-daqs tal-kapaċità tagħhom. Dan li ġej huwa metodu ta 'użu ta' multimetru diġitali biex jiskopri kapaċitaturi fil-medda tar-reżistenza, li huwa ta 'valur prattiku għal strumenti li ma stabbilixxewx il-firxa tal-kapaċità. Dan il-metodu huwa adattat għall-kejl ta 'capacitors ta' kapaċità kbira li jvarjaw minn 0.1 μ F sa diversi eluf ta 'mikrofarads.
Issettja l-multimetru diġitali għall-firxa ta 'reżistenza xierqa, bis-sondi ħomor u iswed jmissu rispettivament iż-żewġ poli tal-kapaċitatur Cx ittestjat. F'dan il-punt, il-valur muri se jiżdied gradwalment minn "000" sakemm is-simbolu ta 'overflow "1" jintwera. Jekk "000" jintwera b'mod konsistenti, jindika short circuit intern fil-kapaċitatur; Jekk l-overflow jintwera b'mod konsistenti, jista 'jkun minħabba ċirkwit miftuħ bejn l-arbli interni tal-kapaċitatur, jew jista' jkun minħabba livell ta 'reżistenza mhux xieraq magħżul. Meta tiċċekkja capacitors elettrolitiċi, huwa importanti li wieħed jinnota li s-sonda ħamra (iċċarġjata b'mod pożittiv) għandha tkun imqabbda mat-terminal pożittiv tal-kapaċitatur, u s-sonda sewda għandha tkun imqabbda mat-terminal negattiv tal-kapaċitatur.
3. Kejjel bil-firxa tal-vultaġġ
Il-kejl bil-firxa tal-vultaġġ huwa fil-fatt metodu ta 'kejl indirett, li huwa l-aktar metodu ta' kejl preċiż. Issettja l-multimeter għall-modalità kurrenti DC, qabbad is-sondi ħomor u iswed mal-kapaċitatur, iċċarġja l-kapaċitatur, u kkalkula l-kapaċità bl-użu tal-formula. Hemm ħafna metodi biex titkejjel il-kapaċità b'multimetru. Il-prinċipju tal-kejl huwa li tuża l-bidla fil-qari fuq il-multimeter hekk kif l-ammont ta 'elettriku ċċarġjat jiżdied matul il-proċess tal-iċċarġjar, u l-kurrent jgħaddi minnu, sabiex ikejjel id-daqs tal-kapaċità. Multimeter huwa strument ta 'preċiżjoni, iżda hemm ukoll xi prekawzjonijiet li għandhom jittieħdu meta tużah, bħal ma jagħmlux żbalji fil-konnessjoni tas-sondi ħomor u iswed, u ma ċċaqlaqx il-firxa tal-vultaġġ tal-enerġija biex tiġi evitata ħsara lill-istrument.
