Metodu ta 'kejl tal-kwalità tat-transistors b'ħafna multimetru
L-ewwelnett, qabbad il-multimetru mat-terminal tad-dijodu tat-test. Uża s-sonda l-ħamra tal-multimetru biex tmiss waħda mill-pinnijiet tat-transistor, u uża s-sonda l-oħra tal-multimetru biex tittestja l-pinnijiet li jifdal sakemm jinkiseb ir-riżultat li ġej:
1. Jekk is-sonda sewda ta 'transistor hija konnessa ma' waħda mill-labar tagħha u ż-żewġ labar l-oħra huma t-tnejn li huma jmexxu b'wirja ta 'vultaġġ meta mkejla b'sonda ħamra, allura dan it-transistor huwa transistor PNP, u l-brilli konnessi mas-sonda sewda huwa l-bażi B tat-transistor. Meta ttestjat bl-użu tal-metodu ta 'hawn fuq, jekk il-vultaġġ tas-sonda ħamra ta' multimetru konness ma 'wieħed mill-labar tagħha huwa kemmxejn ogħla, allura dan il-brilli huwa l-emittent E tat-transistor, u l-pin li jifdal b'vultaġġ aktar baxx huwa l-kollettur C.
2 Meta ttestjat bl-użu tal-metodu ta 'hawn fuq, jekk il-vultaġġ tas-sonda sewda ta' multimetru konness ma 'wieħed mill-labar tagħha huwa kemmxejn ogħla, allura dan il-brilli huwa l-emittent E tat-transistor, u l-pin li jifdal b'vultaġġ aktar baxx huwa l-kollettur C.
Metodu ieħor huwa li tuża l-irkaptu HFE għall-ġudizzju. Wara d-determinazzjoni tal-bażi u t-tip ta 'transistor tat-transistor, daħħal il-bażi tat-transistor fit-toqba tal-kejl tal-valur LU skond il-pożizzjoni tal-bażi u t-tip ta' transistor, u daħħal iż-żewġ labar l-oħra fi kwalunkwe tnejn mit-tliet toqob tal-kejl li fadal. Osserva d-daqs tad-dejta fuq l-iskrin tal-wiri, sib il-kollettur u l-emittent tat-transistor, jiskambja pożizzjonijiet, u mbagħad kejjel mill-ġdid. Osserva l-valur fuq l-iskrin tal-wiri, irrepeti l-kejl erba 'darbiet, u qabbel u osserva. Il-valur massimu mkejjel huwa l-fattur ta 'amplifikazzjoni kurrenti tat-transistor, li jikkorrispondi għall-kollettur u l-elettrodi tal-emittent tat-transistor.
