Applikazzjonijiet ta 'Mikroskopji Metallografiċi F'Setturi Industrijali Diversi
Mikroskopji metallografiċi ġew l-ewwel derivati mill-metallografija. L-iskop primarju tagħhom huwa li josservaw strutturi metallografiċi, li jagħmluhom strumenti speċjalizzati ddisinjati esklussivament biex jeżaminaw l-istrutturi metallografiċi ta 'oġġetti opaki bħal metalli u minerali. Dawn l-oġġetti opaki ma jistgħux jiġu osservati taħt mikroskopji tad-dawl ta 'trasmissjoni ordinarja; għalhekk, id-differenza ewlenija bejn mikroskopji metallografiċi u mikroskopji ordinarji tinsab fil-fatt li l-ewwel juża dawl rifless għall-illuminazzjoni, filwaqt li l-aħħar jiddependi fuq dawl trażmess.
Mikroskopji metallografiċi huma kkaratterizzati minn stabbiltà eċċellenti, immaġini ċari, riżoluzzjoni għolja, u kamp viżiv kbir u ċatt. Minbarra l-osservazzjoni mikroskopika permezz tal-ocular, jistgħu wkoll juru immaġini dinamiċi -ħin reali fuq skrins tal-kompjuter (jew kamera diġitali). L-immaġini meħtieġa jistgħu jiġu editjati, salvati, u stampati, b'applikazzjonijiet primarji f'oqsma bħal hardware, sezzjonijiet metallografiċi, komponenti IC, u manifattura ta 'LCD/LED.
Mikroskopji metallografiċi huma mgħammra b'ħames tipi ta 'lentijiet oġġettivi: EPI Brightfield Fluorescence, BD Brightfield/Darkfield, SLWD (Super Long Working Distance), ELWD (Enhanced Long Working Distance), u dawk b'għonq ta' korrezzjoni. Fl-industrija tal-ħardwer, għal partijiet tal-ħardwer b'riflessjoni severa, lentijiet oġġettivi BD Brightfield/Darkfield jistgħu jintgħażlu għall-osservazzjoni. Pereżempju, fl-industrija LCD, meta tosserva u tkejjel partiċelli konduttivi, mikroskopji metallografiċi jistgħu jkunu mgħammra b'DIC (Kuntrast ta' Interferenza Differenzjali) biex jiksbu aktar immaġini tridimensjonali. DIC tutilizza teknoloġija polarizzanti-filtri polarizzanti mqabbda jiffurmaw sistema ta' osservazzjoni mikroskopika polarizzata. Ibbażat fuq il-proprjetajiet birrefringenti tal-oġġetti, tbiddel id-direzzjoni tal-mogħdija ottika. Madankollu, il-polarizzazzjoni hija sinifikanti biss meta tintuża flimkien ma 'DIC; ma jservi l-ebda skop prattiku waħdu. Meta mikroskopji metallografiċi jintużaw għall-kejl u l-analiżi ta' oġġetti ta' daqs mikro-bħal komponenti IC u sezzjonijiet metallografiċi, jista' jintuża s-softwer intelliġenti Iview-DIMS.
Dan is-softwer joffri preċiżjoni għolja, li effettivament inaqqas l-iżbalji tal-kejl tal-bniedem. Huwa faċli li titgħallem u tuża, li tippermetti kejl preċiż u analiżi ta 'dimensjonijiet rilevanti bħal punti, linji, arki, raġġi, dijametri u angoli. Jappoġġa wkoll il-qbid faċli ta 'immaġni ta' kejl u l-adattament ta 'diversi rapporti tat-test.
