Prinċipju ta 'ħidma u applikazzjoni ta' mikroskopija elettronika ta 'Trażmissjoni
Il-mikroskopija elettronika ta 'trażmissjoni (TEM fil-qosor) tista' tara strutturi fini inqas minn {{0}}.2um li ma jistgħux jidhru b'mod ċar taħt il-mikroskopju ottiku. Dawn l-istrutturi jissejħu Ultrastruttura jew ultrastruttura. Biex tara dawn l-istrutturi b'mod ċar, huwa meħtieġ li tagħżel sors ta 'dawl ta' wavelength iqsar biex ittejjeb ir-riżoluzzjoni tal-mikroskopju. Ruska vvinta l-mikroskopija tal-elettroni tat-Trażmissjoni bir-raġġ tal-elettroni bħala s-sors tad-dawl fl-1932. Il-wavelength tar-raġġ tal-elettroni huwa ħafna iqsar minn dawl viżibbli u dawl ultravjola, u l-wavelength tar-raġġ tal-elettroni huwa inversament proporzjonali għall-għerq kwadru tal-vultaġġ tar-raġġ ta 'elettroni emess, jiġifieri, iktar ma jkun għoli l-vultaġġ, iqsar il-wavelength. Fil-preżent, ir-riżoluzzjoni ta 'TEM tista' tilħaq 0.2nm.
Il-prinċipju tax-xogħol tal-mikroskopija tal-elettroni tat-Trażmissjoni huwa li r-raġġ tal-elettroni emess mill-kanun tal-elettroni jgħaddi mill-kondensatur tul l-assi ottiku tal-korp tal-mera fil-kanal tal-vakwu, u mbagħad jikkonverġih f'post tad-dawl qawwi, qawwi u uniformi permezz tal- kondensatur, li jiddi fuq il-kampjun fil-kamra tal-kampjun; Ir-raġġ ta 'elettroni li jgħaddi mill-kampjun iġorr l-informazzjoni strutturali ġewwa l-kampjun, b'inqas elettroni li jgħaddu miż-żoni densi u aktar elettroni li jgħaddu miż-żoni skars; Wara li tiffoka u tkabbar primarju tal-lenti oġġettiva, ir-raġġ tal-elettroni jidħol fil-lenti intermedja u l-ewwel u t-tieni mirja ta 'projezzjoni tal-livell aktar baxx għal immaġini ta' ingrandiment komprensiva. L-immaġni tal-elettroni amplifikata hija finalment ipproġettata fuq il-pjanċa tal-iskrin fluworexxenti fil-kamra tal-osservazzjoni; Skrin fluworexxenti jikkonverti immaġini elettroniċi f'immaġini ta 'dawl viżibbli għall-utenti biex josservaw. Din it-taqsima se tintroduċi l-istrutturi u l-prinċipji ewlenin ta’ kull sistema separatament.
Prinċipju ta 'l-immaġini tal-mikroskopija elettronika ta' Trażmissjoni
Il-prinċipju ta 'l-immaġini tal-mikroskopija elettronika ta' Trażmissjoni jista 'jinqasam fi tliet każijiet:
1. Immaġini ta 'assorbiment: Meta l-elettroni jiġu emessi fuq kampjuni b'massa u densità għolja, il-formazzjoni tal-fażi prinċipali hija t-tifrix. Iż-żoni b'massa u ħxuna kbira fuq il-kampjun għandhom angolu akbar ta 'tifrix ta' elettroni, inqas elettroni jgħaddu, u l-luminożità tal-immaġni hija aktar skura. Il-mikroskopija elettronika ta 'Trażmissjoni bikrija kienet ibbażata fuq dan il-prinċipju.
2. Immaġni tad-diffrazzjoni: wara li r-raġġ ta 'l-elettroni jiġi diffratt mill-kampjun, id-distribuzzjoni ta' l-amplitudni tal-mewġa diffracted f'pożizzjonijiet differenti tal-kampjun tikkorrispondi għall-kapaċità diffrattiva differenti ta 'kull parti tal-kristall fil-kampjun. Meta jidher difett kristallografiku, il-kapaċità diffrattiva tal-parti tad-difett hija differenti miż-żona sħiħa, sabiex id-distribuzzjoni tal-amplitudni tal-mewġa diffracted tkun irregolari, li tirrifletti d-distribuzzjoni tad-difett kristallografiku.
3. Immaġini tal-fażi: Meta l-kampjun ikun irqaq minn 100 Å, l-elettroni jistgħu jgħaddu mill-kampjun, u l-bidla fl-amplitudni tal-mewġ tista 'tiġi injorata. L-immaġini ġejja mill-bidla fil-fażi.
Użu ta' mikroskopija elettronika ta' Trażmissjoni
Il-mikroskopija elettronika tat-trażmissjoni tintuża ħafna fix-xjenza tal-materjal u l-bijoloġija. Minħabba s-suxxettibilità tal-elettroni għat-tifrix jew l-assorbiment minn oġġetti, il-forza tal-penetrazzjoni hija baxxa, u d-densità, il-ħxuna u fatturi oħra tal-kampjun jistgħu jaffettwaw il-kwalità tal-immaġini finali. Għalhekk, huwa meħtieġ li jiġu ppreparati flieli irqaq ultra-rqaq, ġeneralment 50-100nm. Għalhekk, il-kampjuni osservati mill-mikroskopija elettronika tat-Trażmissjoni jeħtieġ li jiġu ttrattati irqaq ħafna. Il-metodi komunement użati jinkludu: metodu ta 'sezzjoni ultra-rqiqa, metodu ta' sezzjoni ultra-rqiq iffriżat, metodu ta 'inċiżjoni ffriżata, metodu ta' ksur iffriżat, eċċ Għal kampjuni likwidi, ġeneralment jiġi osservat billi jiddendlu xibka tal-wajer tar-ram ittrattata minn qabel.
