Għaliex ir-riżoluzzjoni ta 'mikroskopju elettroniku hija ogħla minn dik ta' mikroskopju tad-dawl?
L-ingrandiment tal-mikroskopju ottiku huwa iżgħar minn dak tal-mikroskopju elettroniku. Il-mikroskopju ottiku jista 'biss josserva mikrostrutturi, bħal ċelloli u kloroplasti, filwaqt li l-mikroskopju elettroniku jista' josserva strutturi submikroskopiċi, jiġifieri, l-istruttura ta 'organelli, viruses, batterji, eċċ.
Il-mikroskopju elettroniku jipproġetta raġġ ta 'elettroni aċċellerat u kkonċentrat fuq kampjun irqiq ħafna, u l-elettroni jaħbtu ma' l-atomi fil-kampjun biex ibiddlu d-direzzjoni tagħhom, u b'hekk jipproduċu tixrid ta 'angolu solidu. Id-daqs tal-angolu tat-tifrix huwa relatat mad-densità u l-ħxuna tal-kampjun, għalhekk jistgħu jiġu ffurmati stampi b'luminożità u dlam differenti, u l-immaġini se jintwerew fuq apparat tal-immaġini (bħal skrins fluworexxenti, films, u komponenti tal-akkoppjar fotosensittivi) wara żum u tiffoka.
Minħabba l-wavelength de Broglie qasir ħafna tal-elettron, ir-riżoluzzjoni tal-mikroskopju elettroniku tat-trasmissjoni hija ħafna ogħla minn dik tal-mikroskopju ottiku, li jista 'jilħaq 0.1-0.2nm, u l-ingrandiment huwa għexieren ta 'eluf għal miljuni ta' drabi. Għalhekk, l-użu ta 'mikroskopija elettronika ta' trasmissjoni jista 'jintuża biex josserva l-istruttura fina tal-kampjuni, anke l-istruttura ta' kolonna waħda biss ta 'atomi, li hija għexieren ta' eluf ta 'darbiet iżgħar mill-iżgħar struttura li tista' tiġi osservata permezz ta 'mikroskopija ottika. TEM huwa metodu analitiku importanti f'ħafna oqsma xjentifiċi relatati mal-fiżika u l-bijoloġija, bħar-riċerka tal-kanċer, viroloġija, xjenza tal-materjali, kif ukoll nanoteknoloġija, riċerka tas-semikondutturi, eċċ.
