Liema sustanzi jintużaw prinċipalment biex josservaw bil-mikroskopji elettroniċi tal-iskannjar?
Il-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar (SEM) ġie ivvintat fl-1965 u jintuża prinċipalment għar-riċerka tal-bijoloġija taċ-ċelluli. Prinċipalment juża immaġni tas-sinjal elettroniku sekondarju biex josserva l-morfoloġija tal-wiċċ tal-kampjun, jiġifieri juża raġġ ta 'elettroni estremament dejjaq biex jiskennja l-kampjun. L-interazzjoni mal-kampjun tipproduċi diversi effetti, fosthom l-elettroni sekondarji tal-kampjun.
Elettroni sekondarji jistgħu jipproduċu immaġni topografika mkabbra tal-wiċċ tal-kampjun. Din l-immaġni hija stabbilita fis-sekwenza tal-ħin meta l-kampjun jiġi skennjat, jiġifieri, l-immaġni mkabbra tinkiseb bl-użu ta 'immaġini punt b'punt.
Il-mikroskopija elettronika tal-iskannjar (SEM) hija metodu ta 'osservazzjoni tal-morfoloġija mikroskopika bejn mikroskopija elettronika ta' trasmissjoni u mikroskopija ottika. Jista 'juża direttament il-proprjetajiet tal-materjal tal-materjali tal-wiċċ tal-kampjun għal immaġini mikroskopiċi. Il-vantaġġi tal-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar huma: ① Għandu ingrandiment għoli, li huwa kontinwament aġġustabbli bejn 20 u 200,000 darba; ② Għandu fond kbir ta 'kamp, kamp viżiv kbir, u immaġni tridimensjonali, u jista' josserva direttament l-uċuħ irregolari ta 'diversi kampjuni. Struttura fina; ③ Il-preparazzjoni tal-kampjun hija sempliċi. Mikroskopji elettroniċi tal-iskannjar kurrenti huma mgħammra b'apparati tal-ispettrometru tal-enerġija tar-raġġi-X, li jistgħu josservaw il-morfoloġija tal-mikrostruttura u l-analiżi tal-komponenti tal-mikro-reġjun (jiġifieri SEM-EDS) fl-istess ħin, għalhekk huwa Wieħed mill-aktar strumenti ta 'riċerka xjentifika importanti tal-lum.
⑴ Bijoloġija: żrieragħ, polline, batterji...
⑵Mediċina: ċelluli tad-demm, viruses...
⑶Annimali: musrana l-kbira, villi, ċelloli, fibri...
⑷Materjali [1]: Ċeramika, polimeri, trab, metalli, inklużjonijiet tal-metall, reżina epoxy...
⑸Kimika, fiżika, ġeoloġija, metallurġija, minerali, ħama (baċilli), makkinarju, muturi u kampjuni konduttivi, bħal semikondutturi (IC, kejl tal-wisa 'tal-linja, cross-section, osservazzjoni tal-istruttura...) materjali elettroniċi, eċċ.
