X'inhu l-prinċipju tal-mikroskopija elettronika tat-trażmissjoni?
Mikroskopju elettroniku u prinċipju ta 'l-immaġini tal-mikroskopju ottiku huwa bażikament l-istess, id-differenza hija li l-ewwel b'raġġ ta' elettroni bħala sors tad-dawl, b'kamp elettromanjetiku bħala lenti. Barra minn hekk, minħabba l-penetrazzjoni tar-raġġ tal-elettroni hija dgħajfa ħafna, għalhekk il-kampjun użat għall-mikroskopija elettronika għandu jkun magħmul minn sezzjonijiet ultrarqiqa bi ħxuna ta 'madwar 50nm. Flieli bħal dawn jeħtieġ li jsiru b'ultramicrotome. Ingrandiment tal-mikroskopju elettroniku sa kważi miljun darba, mis-sistema ta 'illuminazzjoni, sistema ta' immaġini, sistema ta 'vakwu, sistema ta' reġistrazzjoni, sistema ta 'provvista ta' enerġija tikkonsisti f'ħames partijiet, jekk suddiviż: il-parti ewlenija tal-lenti tal-elettroni u sistema ta 'reġistrazzjoni tal-immaġini, imqiegħda f' vakwu mill-kanun tal-elettroni, mera ta 'kondensazzjoni, kamra tal-oġġett, objettiv, mera diffracting, mera intermedja, mera ta' projezzjoni, skrin fluworexxenti u kamera. Mikroskopju elettroniku huwa mikroskopju li juża l-elettroni biex jivviżwalizza l-intern jew il-wiċċ ta 'oġġett. Il-wavelength ta 'elettroni ta' veloċità għolja huwa iqsar minn dak tad-dawl viżibbli (wave-partikule duality), u r-riżoluzzjoni ta 'mikroskopju hija limitata mill-wavelength li juża, għalhekk ir-riżoluzzjoni teoretika ta' mikroskopju elettroniku (madwar 0 .1 nanometri) huwa ħafna ogħla minn dak ta 'mikroskopju ottiku (madwar 200 nanometri). Mikroskopju elettroniku ta 'trażmissjoni (Mikroskopju elettroniku ta' trażmissjoni, TEM imqassar), imsejjaħ mikroskopju elettroniku ta 'trażmissjoni, huwa raġġ aċċellerat u aggregat ta' elettroni proġettati fuq kampjun irqiq ħafna, fejn l-elettroni jaħbtu mal-atomi fil-kampjun u jbiddlu d-direzzjoni, li jirriżulta f' tifrix ta 'angolu steriku. Id-daqs tal-angolu tat-tifrix huwa relatat mad-densità u l-ħxuna tal-kampjun, sabiex ikunu jistgħu jiġu ffurmati immaġini differenti ħfief u skuri, u l-immaġni se tintwera fuq l-apparat tal-immaġini (bħal skrin fluworexxenti, film, u komponenti ta 'photocoupling) wara l-ingrandiment u l-iffukar. Minħabba l-wavelength De Broglie qasir ħafna tal-elettroni, ir-riżoluzzjoni tal-mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni hija ħafna ogħla minn dik tal-mikroskopju ottiku, li jista 'jilħaq 0.1 ~ 0.2nm, u l-ingrandiment huwa għexieren ta' eluf ~ miljuni ta 'drabi. Għalhekk, l-użu ta 'mikroskopija elettronika ta' trasmissjoni jista 'jintuża biex josserva l-istruttura fina ta' kampjun, jew saħansitra l-istruttura ta 'ringiela waħda biss ta' atomi, għexieren ta 'eluf ta' darbiet iżgħar mill-iżgħar struttura li tista 'tiġi osservata minn mikroskopju ottiku. TEM huwa metodu analitiku importanti f'ħafna oqsma tax-xjenza relatati mal-fiżika u l-bijoloġija, bħar-riċerka tal-kanċer, viroloġija, xjenza tal-materjali, kif ukoll nanoteknoloġija, riċerka tas-semikondutturi u l-bqija.
