X'inhi d-differenza bejn mikroskopju tad-dawl u mikroskopju elettroniku?
1, Prinċipji ta 'immaġini differenti
Il-prinċipju bażiku tal-mikroskopju ottiku huwa li tuża l-istrutturi differenti tal-kampjun li għandu jiġi eżaminat biex jassorbi l-karatteristiċi differenti tad-dawl, fil-forma ta 'differenza tal-luminożità tippreżenta l-immaġni tal-oġġett tal-kampjun. Fil-mikroskopju elettroniku, l-użu ta 'raġġ ta' elettroni li jiffoka fin fil-wiċċ tal-kampjun punt b'skannjar punt, u interazzjoni tal-kampjun mal-produzzjoni ta 'varjetà ta' sinjali fiżiċi, dawn is-sinjali huma riċevuti mid-ditekter, amplifikazzjoni u kkonvertiti f'sinjali modulati, u finalment fil-wiri tal-iskrin fluworexxenti li jirrifletti varjetà ta 'karatteristiċi tal-immaġni tal-wiċċ tal-kampjun.
2, sorsi ta 'illuminazzjoni differenti
Is-sors ta 'illuminazzjoni tal-mikroskopju ottiku huwa dawl viżibbli (dawl tal-jum jew dawl), filwaqt li s-sors ta' illuminazzjoni użat fil-mikroskopju elettroniku huwa l-fluss tal-elettroni mill-kanun tal-elettroni, minħabba l-wavelength tal-fluss tal-elettroni huwa ħafna iqsar mill-wavelength tad-dawl mewġ, għalhekk l-ingrandiment tal-mikroskopju elettroniku u r-riżoluzzjoni ta 'ħafna ogħla mill-mikroskopju tad-dawl.
Mikroskopju elettroniku ta' trażmissjoni HITACHI HT7800-Mikroskopju tal-Forza Atomika Hitachi_Mikroskopju Elettroniku_Kalorimetru tal-Iskanjar Differenzjali_Analizzatur Termogravimetriku_Spettrofotometru
3, Lentijiet differenti
Mikroskopju elettroniku għandu rwol fl-ingrandiment tal-lenti oġġettiva hija lenti elettromanjetika (jista 'jipproduċi kamp manjetiku fil-parti ċentrali tal-kolja elettromanjetika torojdali), filwaqt li l-lenti oġġettiva tal-mikroskopju ottiku hija ħġieġ mitħun mil-lenti ottika. Hemm tliet settijiet ta 'lentijiet elettromanjetiċi fil-mikroskopju elettroniku, li huma komparabbli mal-funzjonijiet tal-lenti li tiffoka, lenti oġġettiva u eyepiece fil-mikroskopju ottiku.
4, fond tal-kamp
Il-fond ġenerali tal-kamp tal-mikroskopju ottiku huwa bejn 2-3um, għalhekk l-intoppi tal-wiċċ tal-kampjun għandu rekwiżiti għoljin ħafna, għalhekk il-proċess tat-teħid tal-kampjun huwa relattivament kumpless. Il-fond tal-kamp tal-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar jista 'jkun għoli daqs ftit millimetri, għalhekk m'hemm l-ebda rekwiżit għall-ġeometrija tal-intoppi tal-wiċċ tal-kampjun, il-preparazzjoni tal-kampjun hija relattivament sempliċi, u xi kampjuni ma jeħtiġux preparazzjoni tal-kampjun. Għalkemm il-mikroskopju tal-ġisem għandu wkoll fond ta 'kamp relattivament kbir, iżda r-riżoluzzjoni tiegħu hija baxxa ħafna.
5, il-kampjuni użati f'modi differenti ta 'preparazzjoni
Osservazzjoni ta 'mikroskopju elettroniku ta' kampjuni ta 'ċelluli tat-tessut użati fil-preparazzjoni ta' proċeduri aktar kumplessi, diffikultajiet tekniċi u spejjeż huma ogħla, fit-teħid ta 'kampjuni, fissazzjoni, deidrazzjoni u inkorporazzjoni u aspetti oħra tal-ħtieġa għal reaġenti u operazzjonijiet speċjali, iżda jeħtieġ ukoll li jiġu inkorporati fi blokka tajba ta 'tessut imqiegħed f'slicer ultra-rqiq maqtugħ fi flieli ultra-rqaq ta' kampjun ta 'ħxuna ta' 50 ~ 100nm. Il-kampjuni għall-osservazzjoni mikroskopika ħafifa ġeneralment jitqiegħdu fuq slides, bħal kampjuni ta 'sezzjoni tat-tessut ordinarju, kampjuni ta' smear taċ-ċelluli, kampjuni ta 'kompressjoni tat-tessut u kampjuni ta' qatra taċ-ċelluli.
6, riżoluzzjoni
Mikroskopju ottiku minħabba l-interferenza u d-diffrazzjoni tad-dawl, ir-riżoluzzjoni tista 'tkun limitata biss għal bejn 2-5 um. Ir-riżoluzzjoni tal-mikroskopju elettroniku tista 'tilħaq 1-3nm minħabba li tadotta raġġ ta' elettroni bħala s-sors tad-dawl. Għalhekk, l-osservazzjoni tat-tessut tal-mikroskopju tad-dawl tappartjeni għal analiżi fil-livell tal-mikron, filwaqt li dik tal-mikroskopju elettroniku tappartjeni għall-analiżi fil-livell nanometru.
7,Qasam ta 'applikazzjoni
Il-mikroskopju ottiku jintuża prinċipalment għall-osservazzjoni tat-tessuti fil-livell tal-mikron u l-kejl ta 'uċuħ lixxi, minħabba li l-użu ta' dawl viżibbli bħala sors tad-dawl, għalhekk mhux biss jista 'josserva s-saff tal-wiċċ tat-tessut tal-kampjun u ċerta firxa ta' tessuti taħt is-saff tal-wiċċ jista 'jiġi osservat ukoll, u mikroskopju ottiku għall-identifikazzjoni tal-kulur huwa sensittiv ħafna u preċiż. Il-mikroskopija elettronika tintuża prinċipalment għall-osservazzjoni fuq skala nanometru tal-morfoloġija tal-wiċċ tal-kampjun, minħabba li l-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar jiddependi fuq l-intensità tas-sinjal fiżiku biex jiddistingwi l-informazzjoni tat-tessut, għalhekk l-immaġni tal-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar huwa iswed u abjad, għar-rikonoxximent ta 'immaġni bil-kulur mikroskopju elettroniku skanjar jidher li ma jistax jgħin.
