Użi u karatteristiċi tal-mikroskopija elettronika ta' trażmissjoniUżi u karatteristiċi tal-mikroskopija elettronika ta' trażmissjoni
Mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni (TEM) huwa mikroskopju b'riżoluzzjoni għolja użat biex josserva l-istruttura interna ta 'kampjun. Juża raġġ ta 'elettroni biex jippenetra kampjun u jifforma immaġni proġettata, li mbagħad tiġi interpretata u analizzata biex tiżvela l-mikrostruttura tal-kampjun.
1. Sors Elettron
TEM juża raġġ ta 'elettroni aktar milli raġġ tad-dawl. Is-serje Talos tal-mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni mgħammra minn Jifeng Electronics MA Lab juża gun ta 'elettroni ta' luminożità ultra-għolja, u l-mikroskopju elettroniku ta 'trasmissjoni ta' aberrazzjoni sferika HF5000 juża gun ta 'elettroni ta' kamp kiesaħ.
2.Sistema tal-vakwu
Sabiex jiġi evitat li r-raġġ ta 'l-elettroni jinteraġixxi mal-gass qabel ma jivvjaġġa permezz tal-kampjun, il-mikroskopju kollu għandu jinżamm taħt kondizzjonijiet ta' vakwu għoli.
3. Kampjun tat-trasmissjoni
Il-kampjun għandu jkun trasparenti, li jfisser li r-raġġ ta 'elettroni jista' jippenetrah, jinteraġixxi miegħu u jifforma immaġni proġettata. Tipikament, il-ħxuna tal-kampjun hija fil-medda tan-nanometru sa sub-micron. Kull tliet xhur hija mgħammra b'għexieren ta 'Helios 5 serje FIBs għall-preparazzjoni ta' kampjuni TEM ultra-rqaq ta 'kwalità għolja.
4. Sistema ta 'Trażmissjoni ta' Elettroni
Ir-raġġ ta 'l-elettroni huwa ffukat permezz ta' sistema ta 'trażmissjoni. Dawn il-lentijiet huma simili għal dawk użati fil-mikroskopji ottiċi, iżda minħabba li t-tul tal-mewġ tal-elettroni huma ħafna iqsar mill-mewġ tad-dawl, id-disinn u l-manifattura tal-lentijiet huma aktar impenjattivi.
5. Image Plane
Wara li jgħaddi mill-kampjun, ir-raġġ tal-elettroni jidħol fi pjan tal-immaġni. F'dan il-pjan, l-informazzjoni mir-raġġ tal-elettroni tiġi kkonvertita f'immaġni u tinqabad minn ditekter.
6. Detector
L-aktar ditekters komuni huma skrins tal-fosfru, kameras CCD (Charge Coupled Device) jew kameras CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor). Meta raġġ ta 'elettroni jinteraġixxi ma' skrin tal-fosfru fil-pjan ta 'l-immaġni, jiġi prodott dawl viżibbli, li jirriżulta f'immaġni proġettata tal-kampjun, li ħafna drabi tintuża biex jinstab il-kampjun. Peress li l-iskrin tal-fosfru jeħtieġ li jintuża f'ambjent ta 'kamra mudlama, li mhuwiex faċli għall-utent, il-manifatturi llum il-ġurnata jinstallaw kamera fuq in-naħa tal-iskrin tal-fosfru, sabiex l-operatur TEM ikun jista' josserva l-monitor f'ambjent miftuħ biex isib kampjuni , Mejjel l-assi tat-tejp u operazzjonijiet oħra, dan it-titjib inconspicuous huwa l-bażi tar-realizzazzjoni tas-separazzjoni tal-bniedem-magna.
7. Formazzjoni tal-Immaġni
Hekk kif ir-raġġ ta 'l-elettroni jgħaddi mill-kampjun, jinteraġixxi ma' l-istrutturi atomiċi u kristallini fi ħdan il-kampjun, ixerred u jassorbi. Ibbażat fuq dawn l-interazzjonijiet, l-intensità tar-raġġ tal-elettroni se tifforma immaġini fuq il-pjan tal-immaġni. Dawn l-immaġini huma immaġini proġettati bidimensjonali, iżda l-istruttura interna tal-kampjun hija ħafna drabi tridimensjonali, għalhekk għandha tingħata attenzjoni partikolari għal dan meta tiġi solvuta l-informazzjoni dwar id-dettalji interni tal-kampjun.
8. Analiżi u Interpretazzjoni
Billi josservaw u janalizzaw l-immaġini, ir-riċerkaturi jistgħu jifhmu l-istruttura tal-kristall, il-parametri tal-kannizzata, id-difetti tal-kristall, l-arranġament atomiku u informazzjoni mikrostrutturali oħra tal-kampjun. Jifeng għandu tim professjonali ta 'analiżi tal-materjal, li jista' jipprovdi lill-klijenti soluzzjonijiet ta 'analiżi ta' proċess sħiħ u rapporti professjonali ta 'analiżi tal-materjal.
