Trażmissjoni tal-Mikroskopju Elettroniku Prinċipju ta 'Ħidma u Użu
Mikroskopju Elettron tat-Trażmissjoni (TEM), jista 'jara fil-mikroskopju ottiku ma jistax jara inqas minn {{0}}.2 um ta' struttura fina, dawn l-istrutturi jissejħu struttura sub-mikroskopika jew ultramicrostructure. Biex tara dawn l-istrutturi, huwa meħtieġ li tagħżel wavelength iqsar tas-sors tad-dawl, sabiex ittejjeb ir-riżoluzzjoni tal-mikroskopju. 1932 Ruska vvinta r-raġġ tal-elettroni bħala s-sors tad-dawl tal-mikroskopju tal-elettroni tat-trasmissjoni, il-wavelength tar-raġġ tal-elettroni huwa ħafna iqsar mill-wavelength tad-dawl viżibbli u tad-dawl ultravjola, u l-wavelength tar-raġġ tal-elettroni u l-emissjoni tar-raġġ tal-elettroni ta ' l-għerq kwadru tal-vultaġġ inversament proporzjonali għal jiġifieri li l-ogħla vultaġġ tal-wavelength tal-iqsar. Bħalissa l-qawwa ta 'riżoluzzjoni ta' TEM hija sa 0.2nm.
Il-prinċipju tax-xogħol tal-mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni huwa r-raġġ tal-elettroni emess mill-kanun tal-elettroni, fil-kanal tal-vakwu tul l-assi ottiku tal-korp tal-mera permezz tal-mera tal-kondensatur, permezz tal-mera tal-kondensatur se jkun konverġenti f'raġġ ta 'post qawwi, qawwi u uniformi, irradjazzjoni tal-kampjuni fil-kamra tal-kampjuni fuq il-kampjuni; permezz tal-kampjuni wara r-raġġ ta 'elettroni li jġorru kampjuni b'informazzjoni strutturali interna, kampjuni fid-dens permezz ta' l-ammont ta 'elettroni huwa żgħir, l-ammont ta' elettroni trasmessi permezz tal-post sparser aktar elettroni; wara l-konverġenza tal-lenti oġġettiva li tiffoka u Wara l-konverġenza tal-lenti oġġettiva li tiffoka u t-tkabbir primarju, ir-raġġ tal-elettroni fil-livell aktar baxx tal-lenti intermedja u l-ewwel, it-tieni mera tal-projezzjoni għal immaġini ta 'ingrandiment integrat, u fl-aħħar mill-aħħar l-immaġni elettronika mkabbra proġettata fuq il-kamra tal-osservazzjoni tal-bord tal-iskrin fluworexxenti; skrin fluworexxenti se jiġi kkonvertit f'immaġni viżibbli tal-immaġni elettronika biex l-utent josserva. F'din it-taqsima, huma deskritti l-istrutturi u l-prinċipji ewlenin ta 'kull sistema.
Il-prinċipju tal-immaġini tal-mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni jista 'jinqasam fi tliet każijiet:
1. Assorbiment bħal: meta l-elettron sparat għall-massa, id-densità tal-kampjun, l-effett ewlieni li jifforma l-fażi huwa l-effett tat-tifrix. Kampjun fuq il-ħxuna tal-massa tal-post fuq l-angolu tat-tifrix tal-elettron huwa kbir, permezz tal-elettron huwa inqas, bħall-luminożità tal-aktar skur. Mikroskopji elettroniċi ta 'trasmissjoni bikrija kienu bbażati fuq dan il-prinċipju.
2. Immaġni tad-diffrazzjoni: Wara li r-raġġ ta 'l-elettroni jiġi diffratt mill-kampjun, id-distribuzzjoni ta' l-amplitudni tal-mewġa ta 'diffrazzjoni f'pożizzjonijiet differenti tal-kampjun tikkorrispondi għall-kapaċità diffrattiva differenti ta' kull parti tal-kristall fil-kampjun. Meta jkun hemm difett tal-kristall, il-kapaċità diffrattiva tal-parti difettuża hija differenti minn dik taż-żona intatta, u b'hekk id-distribuzzjoni tal-amplitudni tal-mewġa tad-diffrazzjoni tkun irregolari u tirrifletti d-distribuzzjoni tad-difett tal-kristall.
3. Immaġini tal-fażi: Meta l-kampjun ikun irqiq daqs 100Å jew inqas, l-elettroni jistgħu jgħaddu mill-kampjun, u l-bidla tal-amplitudni tal-mewġ tista 'tiġi traskurata, u l-immaġini ġejja mill-bidla tal-fażi.
