Id-differenza bejn mikroskopju metallografiku u mikroskopju elettroniku tal-iskannjar
Mikroskopju metallografiku huwa mikroskopju ottiku li juża apparat tad-dawl li joħroġ biex josserva l-wiċċ (kompożizzjoni tal-liga) ta 'kampjuni ta' materjal tal-metall. Huwa prodott teknoloġiku ġdid iddisinjat u żviluppat billi jintegra t-teknoloġija tal-mikroskopju, it-teknoloġija tal-konverżjoni fotoelettrika u t-teknoloġija tal-ipproċessar tal-immaġni tal-kompjuter elettroniku. Jista' josserva b'mod konvenjenti immaġini ta 'analiżi metallografika fuq kompjuters elettroniċi, u mbagħad janalizza u grada immaġini ta' analiżi metallografika, kif ukoll stampi ta 'produzzjoni u kopja.
Il-mikroskopija elettronika tal-iskannjar hija tip ġdid ta 'tagħmir ta' apparat optoelettroniku. Għandu l-karatteristiċi ta 'preparazzjoni ta' kampjun sempliċi, firxa aġġustabbli ta 'ingrandiment, riżoluzzjoni għolja ta' skrin ta 'immaġini, u fond kbir ta' kamp. Għal għexieren ta 'snin, il-mikroskopija elettronika tal-iskannjar intużat ħafna f'industriji bħall-bijoloġija molekulari, il-mediċina u l-metallurġija, u tmexxi t-tendenza tal-iżvilupp ta' diversi korsijiet relatati.
Hemm differenza sinifikanti bejn iż-żewġ tipi ta 'mikroskopji ottiċi, bl-aspetti ewlenin li ġejjin:
1, Is-sors tad-dawl huwa differenti: mikroskopju metallografiku juża dawl viżibbli bħala sors tad-dawl, filwaqt li mikroskopju elettroniku tal-iskannjar juża raġġ tal-jone bħala s-sors tad-dawl għall-immaġini.
2, Il-prinċipji bażiċi huma differenti: il-mikroskopija metallografika tuża prinċipji ta 'immaġini ottiċi ġeometriċi għall-immaġini, il-mikroskopija elettronika tal-iskannjar tuża elettron negattiv ta' raġġ ta 'jone ta' effiċjenza għolja fuq il-wiċċ tal-kampjun biex tistimula diversi sinjali ta 'dejta fiżika fuq il-wiċċ tal-kampjun, u mbagħad juża ditekters tas-sinjali tad-dejta differenti biex jirċievi sinjali tad-dejta fiżika u jikkonvertihom f'kontenut ta 'informazzjoni tal-immaġni.
3, Riżoluzzjoni tal-iskrin: Minħabba l-effetti ta 'interferenza u trasmissjoni tad-dawl, ir-riżoluzzjoni tal-iskrin ta' mikroskopju metallografiku hija limitata għall-firxa ta '0.2-0.5um. Minħabba l-użu ta 'raġġi joniċi bħala s-sors tad-dawl, il-mikroskopija elettronika tal-iskannjar tista' tikseb riżoluzzjoni tal-iskrin bejn 1-3nm. Għalhekk, l-osservazzjoni tal-mekkaniżmu tal-mikroskopija metallografika tappartjeni għall-analiżi tal-livell μ m, filwaqt li l-osservazzjoni tal-mekkaniżmu tal-mikroskopija elettronika tal-iskannjar tappartjeni għall-analiżi tal-livell nano.
4, Fond tal-kamp: Ġeneralment, il-fond tal-kamp ta 'mikroskopju metallografiku huwa bejn 2-3um, għalhekk hemm rekwiżit għoli ħafna għal-livell ta' intoppi tal-wiċċ tal-kampjun. Għalhekk, il-proċess kollu tal-preparazzjoni tal-kampjun huwa relattivament kumpless. Il-fond tal-kamp tal-mikroskopija elettronika tal-iskannjar jista 'jilħaq ħafna.
Mikroskopju metallografiku huwa mikroskopju ottiku li juża apparat tad-dawl li joħroġ biex josserva l-wiċċ (kompożizzjoni tal-liga) ta 'kampjuni ta' materjal tal-metall. Huwa prodott teknoloġiku ġdid iddisinjat u żviluppat billi jintegra t-teknoloġija tal-mikroskopju, it-teknoloġija tal-konverżjoni fotoelettrika u t-teknoloġija tal-ipproċessar tal-immaġni tal-kompjuter elettroniku. Jista' josserva b'mod konvenjenti immaġini ta 'analiżi metallografika fuq kompjuters elettroniċi, u mbagħad janalizza u grada immaġini ta' analiżi metallografika, kif ukoll stampi ta 'produzzjoni u kopja.
Il-mikroskopija elettronika tal-iskannjar hija tip ġdid ta 'tagħmir ta' apparat optoelettroniku. Għandu l-karatteristiċi ta 'preparazzjoni ta' kampjun sempliċi, firxa aġġustabbli ta 'ingrandiment, riżoluzzjoni għolja ta' skrin ta 'immaġini, u fond kbir ta' kamp. Għal għexieren ta 'snin, il-mikroskopija elettronika tal-iskannjar intużat ħafna f'industriji bħall-bijoloġija molekulari, il-mediċina u l-metallurġija, u tmexxi t-tendenza tal-iżvilupp ta' diversi korsijiet relatati.
