Id-differenza bejn mikroskopju elettroniku, mikroskopju tal-forza atomika u mikroskopju tal-iskannjar tal-mini
I. Karatteristiċi tal-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar Meta mqabbel mal-mikroskopju ottiku u l-mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni, il-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar għandu l-karatteristiċi li ġejjin:
(i) l-abbiltà li tosserva direttament l-istruttura tal-wiċċ tal-kampjun, id-daqs tal-kampjun jista 'jkun kbir daqs 120mm × 80mm × 50mm.
(ii) Il-proċess tal-preparazzjoni tal-kampjun huwa sempliċi, mingħajr ma jkun hemm bżonn taqta 'flieli irqaq.
(iii) Il-kampjun jista 'jiġi tradott u mdawwar fi tliet gradi ta' spazju fil-kamra tal-kampjun, sabiex il-kampjun ikun jista 'jiġi osservat minn diversi angoli.
(iv) Il-fond tal-kamp huwa kbir, u l-immaġni hija rikka f'sens tridimensjonali. Il-fond tal-kamp ta 'SEM huwa mijiet ta' darbiet akbar minn dak tal-mikroskopju ottiku u għexieren ta 'darbiet akbar minn dak tal-mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni.
(E) firxa ta ' ingrandiment ta ' l-immaġni hija wiesgħa, ir-riżoluzzjoni hija wkoll relattivament għolja. Jista 'jiġi eżaltat tużżana darbiet għal mijiet ta' eluf ta 'drabi, bażikament jinkludi mill-lenti, mikroskopju ottiku sal-firxa ta' ingrandiment tal-mikroskopju elettroniku tat-trasmissjoni. Riżoluzzjoni bejn il-mikroskopju ottiku u l-mikroskopju elettroniku tat-trasmissjoni, sa 3nm.
(vi) Il-ħsara u l-kontaminazzjoni tal-kampjun mir-raġġ tal-elettroni hija żgħira.
(vii) Waqt l-osservazzjoni tal-morfoloġija, sinjali oħra li joħorġu mill-kampjun jistgħu jintużaw ukoll għall-analiżi tal-kompożizzjoni tal-mikro-żona.
II-Mikroskopju tal-Forza Atomika
Atomic Force Microscope (AFM), strument analitiku li jista 'jintuża biex tistudja l-istruttura tal-wiċċ ta' materjali solidi, inklużi iżolaturi. Jinvestiga l-istruttura tal-wiċċ u l-proprjetajiet tas-sustanzi billi jiskopri l-forzi interatomiċi estremament dgħajfa bejn il-wiċċ tal-kampjun li għandu jiġi ttestjat u element minjatura sensittiv għall-forza. Par ta 'mikro-cantilevers, li huma estremament sensittivi għal forzi dgħajfa, huma ffissati f'tarf wieħed, u ponta ċkejkna tal-labra fit-tarf l-ieħor tinġieb qrib il-kampjun, li mbagħad jinteraġixxi miegħu, u l-forza tikkawża l- mikro-cantilevers biex jiddeformaw jew jibdlu l-istat tal-moviment tagħhom. Meta tiskennja l-kampjun, dawn il-bidliet jiġu skoperti minn sensuri, u informazzjoni dwar id-distribuzzjoni tal-forza tista 'tinkiseb, u b'hekk tinkiseb informazzjoni dwar il-morfoloġija u l-istruttura tal-wiċċ kif ukoll il-ħruxija tal-wiċċ b'riżoluzzjoni tan-nanometru.
AFM għandu ħafna vantaġġi fuq il-mikroskopija elettronika tal-iskannjar. B'differenza mill-mikroskopji elettroniċi, li jistgħu jipprovdu biss immaġini bidimensjonali, AFM jipprovdi mapep tal-wiċċ tridimensjonali veri. Ukoll, AFM ma teħtieġ l-ebda trattament speċjali tal-kampjun, bħal kisi tar-ram jew tal-karbonju, li jista 'jikkawża ħsara irriversibbli lill-kampjun. It-tielet nett, filwaqt li l-mikroskopji elettroniċi jeħtieġ li joperaw taħt kundizzjonijiet ta 'vakwu għoli, l-AFMs jaħdmu tajjeb fi pressjoni atmosferika u anke f'ambjenti likwidi. Dan jista 'jintuża biex jistudja makromolekuli bijoloġiċi u anke tessuti bijoloġiċi ħajjin. AFM għandu applikabilità usa 'mill-Scanning Tunneling Microscope (STM) minħabba l-kapaċità tiegħu li josserva kampjuni mhux konduttivi. Il-mikroskopji tal-forza tal-iskannjar, li bħalissa jintużaw ħafna fir-riċerka xjentifika u l-industrija, huma bbażati fuq mikroskopija tal-forza atomika.
Mikroskopju tal-Iskanjar tal-Mini
① mikroskopju ta 'skanjar ta' tunneling b'riżoluzzjoni għolja b'riżoluzzjoni spazjali ta 'livell atomiku, ir-riżoluzzjoni spazjali orizzontali tiegħu ta' l, riżoluzzjoni vertikali ta '0.1, ② mikroskopju ta' skanjar ta 'mini jista' jintuża fil-qasam tal-mikroskopija tal-forza atomika.
② mikroskopju tal-iskannjar tal-mini jista 'jisonda direttament l-istruttura tal-wiċċ tal-kampjun, jista' jiġbed immaġni strutturali tridimensjonali.
③ Il-mikroskopju tal-iskannjar tal-mini jista 'jisonda l-istruttura ta' sustanzi fil-vakwu, pressjoni atmosferika, arja, u anke f'soluzzjoni. Peress li m'hemm l-ebda raġġ ta 'elettroni ta' enerġija għolja, m'hemm l-ebda ħsara lill-wiċċ (eż., radjazzjoni, ħsara termali, eċċ.), Għalhekk huwa possibbli li tiġi studjata l-istruttura tal-bijomolekuli u l-wiċċ tal-membrani taċ-ċelluli ħajjin fi stat fiżjoloġiku , u l-kampjuni mhux se jiġu mħassra u jibqgħu intatti.
④ Il-mikroskopju tal-iskannjar tal-mini għandu veloċità ta 'skanjar mgħaġġla, ħin qasir ta' akkwist tad-dejta, u immaġni veloċi, li jagħmilha possibbli li jitwettqu studji kinetiċi tal-proċessi tal-ħajja.
⑤ Ma teħtieġ l-ebda lenti u hija żgħira fid-daqs, għalhekk xi nies isejħulu "mikroskopju tal-but".
