Metodu ta' ttestjar għal ċirkwiti integrati bl-użu ta' multimeter biss bħala għodda ta' ttestjar
Għalkemm is-sostituzzjoni taċ-ċirkwit integrat huwa faċli, iż-żarmar huwa idejqek wara kollox. Għalhekk, qabel iż-żarmar, għandek tiddetermina b'mod preċiż jekk iċ-ċirkwit integrat huwiex tabilħaqq bil-ħsara u l-estent tal-ħsara biex tevita ż-żarmar għomja. Dan l-artikolu jintroduċi l-metodi u l-prekawzjonijiet għall-ittestjar barra minn ċirkwit u fuq ċirkwit ta 'ċirkwiti integrati bl-użu biss ta' multimeter bħala għodda ta 'ttestjar. L-erba 'metodi ta' sejbien fit-triq deskritti f'dan l-artikolu (kejl tar-reżistenza DC, vultaġġ, vultaġġ AC u kurrent totali) huma metodi ta 'skoperta prattiċi u użati komunement fil-manutenzjoni tad-dilettanti. Hawnhekk, nittama wkoll li kulħadd jista 'jipprovdi esperjenza prattika oħra ta' identifikazzjoni u ttestjar (ċirkwiti u komponenti integrati).
(1) Sejbien off-road
Dan il-metodu jitwettaq meta l-IC ma jkunx issaldjat fiċ-ċirkwit. Ġeneralment, multimeter jista 'jintuża biex ikejjel il-valuri tar-reżistenza 'l quddiem u b'lura bejn kull pin li jikkorrispondi għall-pin ta' l-art, u jqabbluh ma 'l-IC intatt.
(2) Sejbien fit-triq
Dan huwa metodu ta 'skoperta li juża multimeter biex jikxef ir-reżistenza DC ta' kull pin tal-IC (l-IC jinsab fiċ-ċirkwit), il-vultaġġ AC u DC mal-art, u l-kurrent operattiv totali. Dan il-metodu jegħleb il-limitazzjonijiet tal-metodu tat-test ta 'sostituzzjoni, li jeħtieġ IC sostitwibbli u l-inkwiet taż-żarmar tal-IC. Huwa l-aktar metodu użat u prattiku għall-iskoperta tal-ICs.
1. Metodu ta 'skoperta tar-reżistenza DC fuq ċirkwit
Dan huwa metodu ta 'użu tal-blokka ohm ta' multimetru biex ikejjel il-valuri tar-reżistenza DC quddiem u lura ta 'kull pin ta' l-IC u komponenti periferali direttament fuq il-bord taċ-ċirkwit, u tqabbelha mad-dejta normali biex issib u tiddetermina l-ħsara. Oqgħod attent għat-tliet punti li ġejjin meta tkejjel:
(1) Skonnettja l-provvista tal-enerġija qabel ma tkejjel biex tevita li ssir ħsara lill-meter u lill-komponenti waqt l-ittestjar.
(2) Il-vultaġġ intern tal-barriera elettrika tal-multimetru m'għandux ikun akbar minn 6V. Huwa aħjar li tuża l-firxa R×100 jew R×1k għall-firxa tal-kejl.
(3) Meta tkejjel il-parametri tal-pin IC, agħti attenzjoni għall-kundizzjonijiet tal-kejl, bħall-mudell taħt it-test, il-pożizzjoni tad-driegħ li jiżżerżaq tal-potenzjometru relatat mal-IC, eċċ., u tikkunsidra wkoll il-kwalità tal-komponenti taċ-ċirkwit periferali .
2. Metodu ta 'kejl tal-vultaġġ operattiv DC
Dan huwa metodu ta 'kejl tal-vultaġġ tal-provvista tal-enerġija DC u l-vultaġġ tax-xogħol tal-komponenti periferali bi blokka tal-vultaġġ DC multimeter meta l-enerġija tkun mixgħula; tiskopri l-valur tal-vultaġġ DC ta 'kull pin tal-IC għall-art, u tqabbel mal-valur normali, u b'hekk tikkompressa l-firxa tal-ħsarat. Sib il-komponent bil-ħsara. Oqgħod attent għat-tmien punti li ġejjin meta tkejjel:
(1) Il-multimeter għandu jkollu reżistenza interna kbira biżżejjed, mill-inqas 10 darbiet akbar mir-reżistenza taċ-ċirkwit li qed jitkejjel, biex jiġu evitati żbalji kbar ta 'kejl.
(2) Normalment, dawwar kull potenzjometru għall-pożizzjoni tan-nofs. Jekk huwa TV, is-sors tas-sinjal għandu juża ġeneratur tas-sinjal tal-bar tal-kulur standard.
(3) Għandhom jittieħdu miżuri kontra ż-żlieq għal ċomb jew sondi tat-test. Kwalunkwe short circuit istantanju jista 'faċilment jagħmel ħsara lill-IC. Il-metodu li ġej jista 'jintuża biex jipprevjeni li l-pinna tat-test tiżżerżaq: ħu biċċa qalba tal-valv tar-roti u poġġiha fuq il-ponta tal-pinna tat-test, u testendi l-ponta tal-pinna tat-test b'madwar 0.5mm. Dan jista 'mhux biss jagħmel il-ponta tal-pinna tat-test f'kuntatt tajjeb mal-punt ittestjat, iżda wkoll effettivament jipprevjeni ż-żliq. , ma jkun hemm l-ebda ċirkwit qasir anki jekk jolqot punti ta 'ħdejha.
(4) Meta l-vultaġġ imkejjel ta 'ċertu pin ma jaqbilx mal-valur normali, il-kwalità tal-IC għandha tiġi ġġudikata billi jiġi analizzat jekk il-vultaġġ tal-pin għandux xi impatt importanti fuq l-operat normali tal-IC u l-bidliet korrispondenti fil-vultaġġ ta' labar oħra.
(5) Il-vultaġġ tal-pin IC se jiġi affettwat minn komponenti periferali. Meta l-komponenti periferali jnixxu, short circuit, ċirkwit miftuħ jew jibdlu l-valur, jew iċ-ċirkwit periferali huwa mqabbad ma 'potenzjometru b'reżistenza varjabbli, il-vultaġġ tal-pin jinbidel minħabba pożizzjonijiet differenti tad-driegħ li jiżżerżaq tal-potenzjometru.
(6) Jekk il-vultaġġ ta 'kull pin ta' l-IC huwa normali, l-IC ġeneralment jitqies normali; jekk il-vultaġġ ta 'xi pinnijiet tal-IC huwa anormali, għandek tibda mill-punt li jiddevja l-aktar mill-valur normali u tivverifika jekk il-komponenti periferali humiex difettużi. Jekk ma jkun hemm l-ebda tort, l-IC x'aktarx li ssirilhom ħsara. .
(7) Għal apparati li jirċievu dinamiċi, bħal televiżjonijiet, il-vultaġġi ta 'kull pin tal-IC huma differenti meta jkun hemm sinjal jew le. Jekk jinstab li l-vultaġġ tal-pin m'għandux jinbidel iżda jinbidel ħafna, u l-vultaġġ tal-pin li għandu jinbidel bid-daqs tas-sinjal u l-pożizzjoni tal-komponent aġġustabbli ma jinbidilx, jista 'jiġi determinat li l-IC tkun bil-ħsara.
(8) Għal apparati b'modi ta 'ħidma multipli, bħal video recorders, il-vultaġġi ta' kull pin tal-IC huma wkoll differenti f'modi ta 'ħidma differenti.
