Issolvi problemi ta 'l-EMI f'dominji ta' ħin u frekwenza billi tuża oxxilloskopji diġitali RTO
L-oxxilloskopji diġitali RTO jistgħu jgħinu lill-inġiniera tal-iżvilupp janalizzaw il-problemi tal-EMI fid-dominju tal-ħin u d-dominju tal-frekwenza meta jiddisinjaw l-elettronika, u jistgħu jgħinu biex jinstabu l-kawżi tal-EMI. L-oxxilloskopju diġitali RTO għandu ħsejjes ta 'input estremament baxx, u s-sensittività tiegħu tista' tilħaq 1mv/div fil-medda sħiħa tal-bandwidth ta '0-4GHz. Il-kapaċità tal-analiżi tal-ispettru FFT f'ħin reali ta 'RTO tista' tintuża b'analiżi ta 'sonda qrib il-kamp biex jiġu djanjostikati problemi EMI.
Fig: Oxxilloskopju diġitali R&S RTO – FFT ta’ front-end/prestazzjoni għolja b’ħsejjes baxxi joħloq għodda dijanjostika EMI qawwija
Iċ-ċavetta għad-dijanjosi EMI hija t-teknoloġija FFT. Bil-funzjoni FFT ta 'oxxilloskopji tradizzjonali, huwa diffiċli li jiġu stabbiliti parametri fid-dominju tal-frekwenza, u l-analiżi tal-ispettru tieħu żmien twil. Peress li l-interface operattiva FFT tal-oxxilloskopju R&S RTO hija bbażata fuq analizzatur tal-ispettru, l-utenti jistgħu jissettjaw direttament parametri, inklużi l-frekwenza tal-bidu, il-frekwenza tal-qtugħ, ir-riżoluzzjoni tal-bandwidth u t-tip ta 'ditekter, bħall-użu ta' analizzatur tal-ispettru.
It-teknoloġija FFT qawwija flimkien mal-fond kbir tal-memorja tal-oxxilloskopju RTO tippermetti lill-utenti jistabbilixxu b'mod indipendenti l-parametri tad-dominju tal-ħin u tal-frekwenza u jmexxu b'mod flessibbli analiżi fid-dominju tal-ħin u d-dominju tal-frekwenza. Dawn il-karatteristiċi jippermettu lill-utenti jiskopru sorsi ta 'interferenza rradjata kemm jista' jkun malajr.
L-oxxilloskopju R&S RTO juża Overlap FFT għall-analiżi tad-dominju tal-frekwenza. It-teknoloġija FFT li tikkoinċidi tista 'tikseb sensittività għolja għal radjazzjoni spurja u taqbad punti ta' frekwenza falza okkażjonali. L-oxxilloskopju l-ewwel jaqsam is-sinjal tad-dominju tal-ħin maqbud f'diversi segmenti tal-ħin, u mbagħad iwettaq kalkoli FFT biex jikseb l-ispettru ta 'kull segment tal-ħin, sabiex is-sinjali spurju okkażjonali ta' enerġija baxxa jkunu jistgħu jinqabdu fl-ispettru.
Imbagħad, sinjali bi frekwenzi differenti huma mmarkati b'kuluri differenti, u l-ispettru ta 'analiżi FFT tal-perjodi ta' żmien kollha huwa kkombinat fi spettru sħiħ.
Ir-radjazzjoni u r-radjazzjoni inċidentali huma mmarkati b'kuluri differenti. L-analiżi tal-ispettru bl-użu ta 'tekniki differenti tal-immarkar tal-kulur tista' turi perfettament it-tip u l-frekwenza tar-radjazzjoni EMI.
It-teknoloġija FFT Windowed tippermetti lill-utenti jippersonalizzaw tieqa tal-ħin fuq is-sinjal maqbud, iwettqu analiżi FFT fuq is-sinjal biss fit-tieqa tal-ħin, u janalizzaw ir-relazzjoni korrispondenti bejn kull sinjal tad-dominju tal-ħin u l-ispettru billi jiżżerżqu din it-tieqa. Pereżempju, din it-teknika tista 'tintuża biex tanalizza problemi ta' EMI ikkawżati minn transistor overshoot fil-qlib ta 'provvisti ta' enerġija. Wara li tikkonferma l-punt problema, l-utent jista 'malajr jivverifika l-effett tar-rettifika.
L-għodod tal-mudelli huma wkoll effettivi ħafna meta jiġu analizzati l-problemi tar-radjazzjoni mitlufa. L-utenti jiddefinixxu mudelli fid-dominju tal-frekwenza u jagħmlu settings korrispondenti għas-sinjali li jiksru, sabiex ikunu jistgħu jiddeterminaw b'mod preċiż liema sinjali jikkawżaw ksur tal-ispettru. Anke għal sinjali li jkunu nqabdu, l-utenti jistgħu jaġġustaw il-parametri FFT, bħad-daqs tat-tieqa u r-riżoluzzjoni tal-frekwenza. Funzjonijiet qawwija bħal dawn jippermettu lill-utenti jagħmlu analiżi bir-reqqa tar-radjazzjoni EMI li hija diffiċli biex tinqabad.
L-oxxilloskopju R&S RTO jistabbilixxi punt ta 'referenza ġdid għall-oxxilloskopji bil-karatteristiċi rikka ta' akkwist u analiżi tiegħu. Fl-istess ħin, flimkien ma 'firxa wiesgħa ta' aċċessorji, bħas-sonda R&S HZ-15 near-field, tipprovdi sett komplut ta 'soluzzjonijiet dijanjostiċi EMI.
