Isem u funzjoni ta' kull parti tal-mikroskopju konfokali
Ibbażat fuq il-prinċipju tat-teknoloġija konfokali, il-mikroskopju konfokali jintuża biex ikejjel il-wiċċ ta 'diversi apparati u materjali ta' preċiżjoni fil-livell mikro u nano, u jista 'jistampa direttament il-morfoloġija tal-wiċċ ta' kampjuni materjali, b'riżoluzzjoni laterali sa 1 nm u riżoluzzjoni tal-assi Z sa 0.5 nm. Jista 'mhux biss ikejjel il-morfoloġija tal-wiċċ tal-kampjun u jipprovdi l-funzjoni li jikkaratterizza l-morfoloġija mikroskopika tal-kejl tad-daqs tal-profil, iżda jipprovdi wkoll ħames funzjonijiet analitiċi ewlenin, bħal analiżi tal-ħruxija, analiżi tal-profil ġeometriku, analiżi strutturali, analiżi tal-frekwenza u funzjonali analiżi. Analiżi tal-ħruxija, analiżi tal-profil ġeometriku, analiżi strutturali, analiżi tal-frekwenza, u analiżi funzjonali huma pprovduti wkoll.
L-analiżi tal-ħruxija tinkludi analiżi tal-parametru sħiħ skont il-ħruxija tal-linja ISO4287, ħruxija tal-wiċċ ISO25178, flatness ISO12781, eċċ.; L-analiżi tal-kontorn ġeometrika tinkludi l-għoli tal-pass, id-distanza, l-angolu, il-kurvatura u kejl ieħor tal-karatteristiċi u l-valutazzjoni tad-dritta, it-tond u t-tolleranza tal-forma; analiżi strutturali tinkludi l-volum tat-toqob u l-fond tal-ħawt, eċċ.; analiżi tal-frekwenza tinkludi d-direzzjoni tal-qamħ u l-analiżi tal-ispettru; analiżi funzjonali tinkludi l-analiżi tad-direzzjoni u l-ispettru tal-frekwenza; analiżi tal-frekwenza tinkludi l-analiżi tad-direzzjoni u l-ispettru tal-frekwenza; u analiżi funzjonali hija wkoll disponibbli. L-analiżi tal-frekwenza tinkludi analiżi tad-direzzjoni tan-nisġa u tal-ispettru; L-analiżi funzjonali tinkludi parametri SK u parametri tal-volum.
L-istruttura tal-mikroskopju konfokali tikkonsisti prinċipalment minn: mikroskopju, sors tad-dawl tal-lejżer, apparat tal-iskannjar, detector, sistema tal-kompjuter (inkluż akkwist tad-dejta, ipproċessar, konverżjoni, softwer tal-applikazzjoni), apparat tal-ħruġ tal-immaġni, apparat ottiku u sistema konfokali.
Fiċ-ċeramika, metalli, semikondutturi, ċipep u materjali oħra tax-xjenza u l-qasam ta 'spezzjoni tal-produzzjoni, mikroskopju konfokali għandu firxa wiesgħa ta' applikazzjonijiet. Mikroskopju konfokali bbażat fuq il-prinċipju ta 'mikroskopija konfokali, skanjar mingħajr kuntatt tal-wiċċ tal-apparat u l-istabbiliment tal-immaġni 3D tal-wiċċ, permezz tas-softwer tas-sistema fuq l-ipproċessar u l-analiżi tad-dejta tal-immaġni 3D tal-wiċċ tal-apparat, sabiex tikseb l-2D, 3D parametri li jirriflettu l-kwalità tal-wiċċ tal-apparat, biex jinkiseb il-kejl tal-morfoloġija tal-wiċċ tal-apparat 3D.
Jista 'jintuża ħafna fil-manifattura tas-semikondutturi u l-ispezzjoni tal-proċess tal-ippakkjar, skrin elettroniku tal-ħġieġ 3C u l-partijiet ta' preċiżjoni tiegħu, ipproċessar ottiku, manifattura ta 'mikro-nano-materjali, partijiet tal-karozzi, apparati MEMS u industrija oħra tal-magni ultra-preċiżjoni u aerospazjali, istituti ta' riċerka xjentifika u oqsma oħra. Kejjel u janalizza l-profil tal-wiċċ, difetti tal-wiċċ, xedd u kedd, korrużjoni, flatness, ħruxija, korrugazzjoni, clearance tal-pori, għoli tal-pass, deformazzjoni tal-liwi, ipproċessar u karatteristiċi oħra tal-wiċċ ta 'diversi prodotti, komponenti u uċuħ materjali.
