Metodu ta 'skoperta tar-reżistenza DC f'ċirkwit tal-multimetru
1. Metodu ta 'skoperta tar-reżistenza DC f'ċirkwit
Dan huwa metodu biex tuża l-blokka ohm ta 'multimetru biex tkejjel direttament il-valuri ta' reżistenza DC pożittiva u negattiva ta 'kull pin tal-IC u komponenti periferali fuq il-bord taċ-ċirkwit, u tqabbelha mad-dejta normali biex issib u tiddetermina l-ħsara. Oqgħod attent għat-tliet punti li ġejjin meta tkejjel:
(1) Skonnettja l-provvista tal-enerġija qabel il-kejl biex tevita ħsara lill-meter u lill-komponenti matul it-test.
(2) Il-vultaġġ intern tal-blokka elettrika tal-multimeter m'għandux ikun akbar minn 6V, u l-firxa hija preferibbilment R×100 jew R×1k.
(3) Meta tkejjel il-parametri tal-pin IC, għandha tingħata attenzjoni lill-kundizzjonijiet tal-kejl, bħall-mudell ittestjat, il-pożizzjoni tad-driegħ li jiżżerżaq tal-potenzjometru relatat mal-IC, eċċ., U l-kwalità tal-komponenti taċ-ċirkwit periferali għandhom jitqiesu wkoll.
2. Metodu ta 'kejl tal-vultaġġ tax-xogħol DC
Dan huwa mod biex titkejjel il-vultaġġ tal-provvista tal-enerġija DC u l-vultaġġ operattiv tal-komponenti periferali bil-blokka tal-vultaġġ DC tal-multimeter meta l-enerġija tkun mixgħula; jiskopri l-valur tal-vultaġġ DC ta 'kull pin tal-IC mal-art, u qabblu mal-valur normali, u mbagħad ikkompressa l-firxa tal-ħsarat. Sib il-komponent bil-ħsara. Oqgħod attent għat-tmien punti li ġejjin meta tkejjel:
(1) Ir-reżistenza interna tal-multimeter għandha tkun kbira biżżejjed, mill-inqas 10 darbiet akbar mir-reżistenza taċ-ċirkwit taħt test, sabiex ma tikkawżax żbalji kbar ta 'kejl.
(2) Normalment dawwar kull potenzjometru għall-pożizzjoni tan-nofs. Jekk huwa TV, is-sors tas-sinjal għandu juża ġeneratur tas-sinjal tal-bar tal-kulur standard.
(3) Għandhom jittieħdu miżuri kontra ż-żlieq għaċ-ċomb tat-test jew is-sondi. L-IC huwa faċilment imħassra minħabba kwalunkwe short circuit momentanju. Il-metodi li ġejjin jistgħu jiġu adottati biex jipprevjenu li l-pinna tat-test tiżżerżaq: ħu qalba tal-valv tar-roti u poġġiha fuq il-ponta tal-pinna tat-test, u testendi l-ponta tal-pinna tat-test b'madwar 0.5mm, li mhux biss tista 'tagħmel il- kuntatt tal-ponta tal-pinna tat-test mal-punt ittestjat tajjeb, iżda wkoll jipprevjeni b'mod effettiv iż-żliq, mhux se jkun ċirkwit qasir anke jekk tolqot punt ġar.
(4) Meta l-vultaġġ imkejjel ta 'pin ma jaqbilx mal-valur normali, għandu jiġi analizzat skont jekk il-vultaġġ tal-pin għandux impatt importanti fuq l-operat normali tal-IC u l-bidliet korrispondenti fil-vultaġġ ta' pinnijiet oħra, għalhekk kif tiġġudika jekk l-IC huwiex tajjeb jew ħażin.
(5) Il-vultaġġ tal-pin IC se jiġi affettwat minn komponenti periferali. Meta tnixxija, ċirkwit qasir, ċirkwit miftuħ jew bidla fil-valur iseħħ f'komponenti periferali, jew iċ-ċirkwit periferali huwa konness ma 'potenzjometru b'reżistenza varjabbli, il-pożizzjoni tad-driegħ li jiżżerżaq tal-potenzjometru hija differenti, li tikkawża li l-vultaġġ tal-pin jinbidel.
(6) Jekk il-vultaġġ ta 'kull pin tal-IC huwa normali, ġeneralment jitqies li l-IC huwa normali; jekk il-vultaġġ ta 'xi pinnijiet tal-IC huwa anormali, għandek tibda mill-punt fejn id-devjazzjoni mill-valur normali hija l-akbar, u tivverifika jekk il-komponenti periferali humiex difettużi. Jekk ma jkun hemm l-ebda tort, l-IC x'aktarx li ssirilhom ħsara. .
(7) Għal tagħmir li jirċievi dinamiċi, bħal settijiet tat-TV, il-vultaġġ ta 'kull pin tal-IC huwa differenti meta jkun hemm sinjal jew le. Jekk jinstab li l-vultaġġ tal-pin m'għandux jinbidel iżda jinbidel ħafna, u dak li għandu jinbidel bid-daqs tas-sinjal u l-pożizzjonijiet differenti tal-komponenti aġġustabbli ma jinbidilx, jista 'jiġi determinat li l-IC tkun bil-ħsara.
(8) Għal apparati b'modi ta 'ħidma multipli, bħal video recorders, il-vultaġġ ta' kull pin tal-IC huwa wkoll differenti taħt modi ta 'ħidma differenti.
3. Metodu ta 'kejl tal-vultaġġ tax-xogħol AC
Sabiex taqbad il-bidla tas-sinjal IC AC, multimeter b'jack dB jista 'jintuża biex iwettaq kejl approssimattiv tal-vultaġġ operattiv AC tal-IC. Meta tittestja, poġġi l-multimeter fil-blokka tal-vultaġġ AC, u daħħal iċ-ċomb tat-test pożittiv fil-jack dB; għal multimetru mingħajr jack dB, 0.1-0.5μF DC li jimblokka kapaċitur jeħtieġ li jiġi konness f'serje mal-ċomb tat-test pożittiv. Dan il-metodu huwa adattat għal ICs bi frekwenza operattiva relattivament baxxa, bħal stadji tal-amplifikatur tal-vidjo ta 'settijiet tat-TV, ċirkuwiti tal-iskannjar tal-kamp, eċċ. Peress li dawn iċ-ċirkwiti għandhom frekwenzi naturali u forom tal-mewġ differenti, id-dejta mkejla hija approssimattiva u hija għal referenza biss.
4. kejl tal-kurrent totali
Dan il-metodu huwa metodu biex jiġġudika jekk l-IC huwiex tajjeb jew ħażin billi jiskopri l-kurrent totali tal-linja tal-provvista tal-enerġija IC. Peress li l-maġġoranza l-kbira tal-ICs huma akkoppjati direttament, meta l-IC tkun bil-ħsara (bħal tqassim tal-junction PN jew ċirkwit miftuħ), se tikkawża saturazzjoni u qtugħ tal-istadju sussegwenti, u tikkawża li l-kurrent totali jinbidel. Għalhekk, l-IC jista 'jiġi ġġudikat billi jitkejjel il-kurrent totali. Jista 'jintuża wkoll biex ikejjel il-waqgħa tal-vultaġġ tar-reżistenza fil-mogħdija tal-enerġija, u tuża l-liġi ta' Ohm biex tikkalkula l-valur totali tal-kurrent.
