Mikroskopju jgħin dimensjonijiet ta 'spezzjoni multipli tal-batteriji
Oriġinaw fis-seklu 17, mikroskopji ottiċi jużaw il-wavelength tad-dawl viżibbli biex tkabbar l-oġġetti għal riżoluzzjoni ta 'mikron, u jintużaw ħafna fix-xjenzi tal-ħajja, ix-xjenza tal-materjali u oqsma oħra. Fil-qasam tal-batteriji, tista 'tosserva l-istruttura tal-elettrodu, tiskopri difetti tal-elettrodu u t-tkabbir tad-dendriti tal-litju, u tipprovdi dejta siewja għar-riċerka u l-iżvilupp tal-batterija. Madankollu, għandha firxa ta 'osservazzjoni limitata minħabba l-limitazzjoni tal-wavelength tad-dawl viżibbli, li hija solvuta sew bil-mikroskopija elettronika
Introdott fl-1931, il-mikroskopju elettroniku juża raġġ ta 'elettroni biex tkabbar oġġett b'fattur ta' 3 miljun biex tinkiseb riżoluzzjoni tan-nanometru. Minħabba r-riżoluzzjoni ogħla tal-mikroskopju elettroniku, fil-batterija R & D, b'sondi differenti, tista 'tikseb informazzjoni multi-dimensjonali (kompożizzjoni, informazzjoni ta' karatterizzazzjoni, daqs tal-partiċelli, proporzjon ta 'kompożizzjoni, eċċ.), Biex tikseb materjali tal-elettrodi pożittivi u negattivi , aġenti konduttivi aktar mikrostrutturi bħal adeżivi u sejbien tad-dijaframmi (osservazzjoni tal-morfoloġija tal-materjal, stat ta 'distribuzzjoni, daqs tal-partiċelli, preżenza ta' difetti, eċċ.)
▲ Immaġini SEM ta 'materjali tal-batteriji pożittivi u negattivi, aġenti konduttivi, ligaturi, u dijaframmi Sors: Zeiss (ittestjat bil-mikroskopju elettroniku Zeiss)
Scanning Electron Microscope minħabba r-riżoluzzjoni għolja tiegħu. Mikroskopju Elettroniku tal-Iskanjar. Jista 'jirrifletti b'mod ċar u jirreġistra l-morfoloġija tal-wiċċ tal-materjal, u b'hekk isir wieħed mill-aktar mezzi konvenjenti biex tikkaratterizza l-morfoloġija tal-materjal
Spezzjoni tal-batterija: Minn 2D sa 3D
Għalkemm l-ispezzjoni planari 2D hija sempliċi u effettiva, xi drabi tista 'tkun preġudikata. L-immaġini 3D jipprovdu lill-iżviluppaturi b'riżultati ta 'spezzjoni aktar intuwittivi, li jtejbu l-effiċjenza u l-prestazzjoni tal-iżvilupp tal-batterija.
B'mod partikolari, it-teknoloġija tal-mikroskopija tar-raġġi X, bħas-serje Zeiss Xradia Versa, tippermetti immaġini 3D mhux distruttivi b'riżoluzzjoni għolja ta 'ġewwa tal-batterija, li jiddistingwu bejn partiċelli tal-elettrodu u pori, dijaframma u arja, eċċ., Li jistgħu ħafna tissimplifika l-proċess u tiffranka l-ħin
▲Immaġini b'riżoluzzjoni għolja ta 'ġewwa ta' ċellula (skannjar tal-kampjun kollu - għażla tar-reġjun ta 'interess - zoom u twettiq ta' immaġini b'riżoluzzjoni għolja) Kreditu: ZEISS (ittestjat bil-mikroskopju tar-raġġi X ZEISS XRadia Versa)
Filwaqt li tibni fuq dan, ZEISS tintroduċi metodu ta’ karatterizzazzjoni tal-evoluzzjoni tat-tessuti b’erba’ dimensjonijiet li jippermetti li tinkiseb aktar informazzjoni u tipprovdi dettalji iktar irqaq
It-teknoloġija tar-raġġ tal-jone iffukat (FIB) tal-ġenerazzjoni li jmiss hija l-għażla preferuta meta jkunu meħtieġa aktar analiżi b'riżoluzzjoni għolja.FIB flimkien ma 'SEM jippermetti proċessar fin u osservazzjoni ta' kampjuni fin-nanoskala. Zeiss u Thermo Fisher it-tnejn nedew prodotti tal-mikroskopija relatati
4. Ittestjar taċ-ċelluli fil-post u applikazzjonijiet relatati ma 'multi-teknoloġija
Metodu wieħed tat-test ħafna drabi ma jikkaratterizzax bis-sħiħ il-proprjetajiet tal-materjal. Għalhekk, l-industrija adottat tagħmir tat-test differenti biex taħdem flimkien biex tikseb korrelazzjoni b'ħafna metodi, li mbagħad tippermetti li tinkiseb informazzjoni multidimensjonali waqt l-ittestjar, u tagħmel ir-riżultati aktar intuwittivi.
Kmieni, il-punt tat-tluq għall-korrelazzjoni b'ħafna metodi kien il-ħtieġa li jiġi osservat l-oġġett taħt test f'riżoluzzjonijiet differenti. Bl-użu ta' CT→X-ray microscopy→FIB-SEM, tagħżel żona u żżomja gradwalment, tista 'tinkiseb informazzjoni aktar komprensiva u preċiża, filwaqt li jista' jsir pożizzjonament rapidu, li jagħmel l-ittestjar aktar effiċjenti
▲ Analiżi ta 'korrelazzjoni fuq skala multipla tal-materjali tal-anodi
Sabiex tinkiseb analiżi fuq skala multipla fil-post, bħal WITec (Ġermanja), Tescan (Repubblika Ċeka), u Zeiss nedew is-sistema RISE, li tirrealizza l-applikazzjoni magħquda ta 'l-immaġini Raman u t-teknoloġija SEM. Permezz tal-kombinazzjoni ta 'topografija tal-wiċċ taċ-ċellula (SEM), distribuzzjoni elementali (EDS) u informazzjoni dwar il-kompożizzjoni molekulari tal-materjal tal-elettrodu (mapping Raman)
