Metodi għall-estensjoni tal-ħajja ta 'sistemi ta' mikroskopju metallografiku
1. Jekk il-kundizzjonijiet jippermettu, huwa rrakkomandat li l-laboratorju tiegħek għandu jkollu tliet kundizzjonijiet protettivi: kontra x-xokk ('il bogħod mis-sors tat-terremot), reżistenti għall-umdità (bl-użu ta 'arja kondizzjonata u nixxiefa), u kontra t-trab (li jkopri l-art b'art); Provvista ta 'enerġija: 220V ± 10%, 50Hz; Temperatura: 0 grad C-40 grad C.
2. Meta tiffoka, oqgħod attent li ma tħallix il-lenti oġġettiva tmiss il-kampjun biex tevita li tobrox il-lenti oġġettiva.
3. Taqlebx il-lenti oġġettiva meta ċ-ċentru tat-toqba ċirkolari tal-kuxxinett fuq l-istadju jkun 'il bogħod miċ-ċentru tal-lenti oġġettiva biex tevita li tobroxha.
4. L-aġġustament tal-luminożità m'għandux ikun qawwi wisq jew qawwi wisq, peress li jista 'jaffettwa l-ħajja tal-bozza tad-dawl u wkoll jagħmel ħsara lill-viżjoni.
5. Is-swiċċijiet (tal-funzjonijiet) kollha għandhom ikunu ħfief u f'posthom.
6. Meta tagħlaq, aġġusta l-luminożità għall-minimu.
7. Mhux professjonisti m'għandhomx jaġġustaw is-sistema tad-dawl (dawl tal-pożizzjoni tal-filament) biex jevitaw li jaffettwaw il-kwalità tal-immaġini.
8. Meta tissostitwixxi l-bozoz aloġenu, agħti attenzjoni għal temperaturi għoljin biex tevita ħruq; Oqgħod attent li ma tmissx direttament il-korp tal-ħġieġ tal-lampa aloġena b'idejk.
9. Meta tintefa u ma tkunx qed tintuża, aġġusta l-lenti oġġettiva għall-iktar pożizzjoni baxxa permezz tal-mekkaniżmu li jiffoka.
10. Meta tagħlaq u ma tkunx qed tuża, tgħattix immedjatament l-għata tat-trab. Stenna li tiksaħ qabel ma tkopriha, u oqgħod attent għall-prevenzjoni tan-nar. Il-punti ta 'hawn fuq huma biss xi oqsma li jeħtieġu attenzjoni speċjali. Nittama li kulħadd għandu joqgħod attent u attent meta juża l-mikroskopju. Jekk ikun hemm xi problemi li ma jistgħux jiġu solvuti minnhom infushom meta tuża l-mikroskopju, tista 'tikkuntattja immedjatament lin-negozjant tal-mikroskopju bit-telefon biex issib soluzzjoni.
karatteristika:
1. It-teknoloġija tal-mikroskopija elettronika tat-trażmissjoni tal-iskannjar teħtieġ livell għoli ta 'vakwu, u s-sistemi elettroniċi huma aktar kumplessi minn TEM u SEM.
2. Il-vultaġġ baxx ta 'aċċelerazzjoni jista' jnaqqas b'mod sinifikanti l-ħsara tar-raġġ tal-elettroni lill-kampjun u jtejjeb ħafna l-kuntrast tal-immaġni, u jagħmilha partikolarment adattata għall-analiżi tat-trażmissjoni ta 'kampjuni ta' materjal artab bħal polimeri organiċi u bijoloġija.
3. Jistgħu jiġu osservati kampjuni eħxen u kampjuni ta 'kuntrast baxx.
4. L-eċitazzjoni qawwija tal-lenti oġġettiva matul il-mod ta 'trażmissjoni tal-iskannjar tista' tikseb diffrazzjoni ta 'żona mikro.
5. Meta tuża l-mod ta 'mikroskopija elettronika ta' trażmissjoni ta 'skannjar ta' mikroskopija elettronika ta 'skanjar biex tosserva kampjuni bijoloġiċi, il-kampjuni jistgħu jiġu osservati direttament mingħajr tbajja' biex jinkisbu stampi b'kuntrast għoli.
