Introduzzjoni għall-Karatteristiċi tal-Mikroskopju Elettroniku tal-Iskanjar
Mikroskopju elettroniku tal-iskannjar (SEM) huwa strument ta 'preċiżjoni kbir użat għall-analiżi tal-morfoloġija ta' żona mikro b'riżoluzzjoni għolja. Għandu l-karatteristiċi ta 'fond kbir ta' kamp, riżoluzzjoni għolja, immaġini intuwittivi, sens qawwi ta 'dimensjonalità tridimensjonali, firxa wiesgħa ta' ingrandiment, u l-abbiltà li ddawwar u tmejjel il-kampjun tat-test fi spazju tridimensjonali. Barra minn hekk, għandu l-vantaġġi ta 'varjetà wiesgħa ta' tipi ta 'kampjuni li jistgħu jitkejlu, kważi l-ebda ħsara jew kontaminazzjoni għall-kampjun oriġinali, u l-abbiltà li fl-istess ħin tikseb morfoloġija, struttura, kompożizzjoni, u informazzjoni kristallografika. Fil-preżent, il-mikroskopija elettronika tal-iskannjar intużat ħafna fir-riċerka mikroskopika f'oqsma bħax-xjenzi tal-ħajja, il-fiżika, il-kimika, il-ġustizzja, ix-xjenzi tad-dinja, ix-xjenza tal-materjali u l-produzzjoni industrijali. Fil-qasam tax-xjenzi tad-dinja biss, jinkludi kristallografija, mineraloġija, depożiti minerali, sedimentoloġija, ġeokimika, ġemoloġija, mikrofossili, astroġoloġija, ġeoloġija taż-żejt u tal-gass, ġeoloġija tal-inġinerija u ġeoloġija strutturali.
Għalkemm il-mikroskopija elettronika tal-iskannjar hija ġdida fil-familja tal-mikroskopji, il-veloċità tal-iżvilupp tagħha hija mgħaġġla ħafna minħabba l-ħafna vantaġġi tagħha.
L-istrument għandu riżoluzzjoni għolja u jista 'josserva dettalji ta' madwar 6nm fuq il-wiċċ tal-kampjun permezz ta 'immaġini elettroniċi sekondarji. Bl-użu ta 'kanun elettron LaB6, jista' jittejjeb aktar għal 3nm.
L-istrument għandu firxa wiesgħa ta 'bidliet ta' ingrandiment u jista 'jiġi aġġustat kontinwament. Għalhekk, daqsijiet differenti ta 'kampijiet tal-vista jistgħu jintgħażlu għall-osservazzjoni kif meħtieġ, u immaġini ċari b'luminożità għolja li huma diffiċli biex jinkisbu b'mikroskopija elettronika ta' trasmissjoni ġenerali jistgħu jinkisbu wkoll b'ingrandiment għoli.
Il-fond tal-kamp u l-kamp viżiv tal-kampjun huma kbar, u l-immaġni hija rikka f'sens tridimensjonali. Jista 'josserva direttament uċuħ mhux maħduma b'ondulazzjonijiet kbar u stampi irregolari tal-ksur tal-metall tal-kampjun, li jagħti lin-nies sens li jkunu preżenti fid-dinja mikroskopika.
Il-preparazzjoni tal-4 kampjuni hija sempliċi. Sakemm il-kampjuni tal-blokka jew tat-trab jiġu ttrattati kemmxejn jew mhux ittrattati, jistgħu jiġu osservati direttament taħt mikroskopju elettroniku tal-iskannjar, li huwa eqreb lejn l-istat naturali tas-sustanza.
5. Il-kwalità tal-immaġni tista 'tiġi kkontrollata u mtejba b'mod effettiv permezz ta' metodi elettroniċi, bħal manutenzjoni awtomatika tal-luminożità u kuntrast, korrezzjoni tal-angolu tal-inklinazzjoni tal-kampjun, rotazzjoni tal-immaġni, jew titjib tat-tolleranza tal-kuntrast tal-immaġni permezz tal-modulazzjoni Y, kif ukoll luminożità moderata u dlam fi diversi partijiet tal-immaġini. Bl-użu ta 'apparat ta' ingrandiment doppju jew selettur ta 'immaġni, stampi b'ingrandimenti differenti jistgħu jiġu osservati simultanjament fuq l-iskrin fluworexxenti.
6 jistgħu jkunu soġġetti għal analiżi komprensiva. Installa spettrometru tar-raġġi X dispersiv ta' wavelength (WDX) jew spettrometru tar-raġġi X dispersiv tal-enerġija (EDX) biex ikun jista' jaħdem bħala sonda tal-elettroni u jikxef elettroni riflessi, raġġi X, katodoluminixxenza, elettroni trasmessi, elettroni Auger, eċċ. mill-kampjun. L-espansjoni tal-applikazzjoni tal-mikroskopija elettronika tal-iskannjar għal diversi metodi ta 'analiżi mikroskopiċi u mikro taż-żona wriet il-multifunzjonalità tal-mikroskopija tal-elettroni tal-iskannjar. Barra minn hekk, huwa wkoll possibbli li jiġu analizzati ż-żoni mikro magħżula tal-kampjun waqt li tiġi osservata l-immaġni tal-morfoloġija; Bl-installazzjoni tat-twaħħil tad-detentur tal-kampjun tas-semikondutturi, il-junctions PN u d-difetti mikro fi transistors jew ċirkwiti integrati jistgħu jiġu osservati direttament permezz ta 'amplifikatur tal-immaġni tal-forza elettromotiva. Minħabba l-implimentazzjoni ta 'kontroll awtomatiku u semi-awtomatiku tal-kompjuter elettroniku għal ħafna sondi tal-elettroni tal-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar, il-veloċità tal-analiżi kwantitattiva tjiebet ħafna.
