Kif ivarja mikroskopju elettroniku minn mikroskopju tad-dawl f'termini ta 'osservabbli?
Mikroskopji ottiċi huma differenti ħafna minn mikroskopji elettroniċi peress li s-sors tad-dawl huwa differenti, il-lenti hija differenti, il-prinċipju tal-immaġini huwa differenti, ir-riżoluzzjoni hija differenti, il-fond tal-kamp huwa differenti, u l-mod ta 'preparazzjoni tal-kampjun huwa differenti. Mikroskopju ottiku huwa komunement magħruf bħala mikroskopju tad-dawl, huwa tip ta 'dawl viżibbli bħala s-sors ta' illuminazzjoni tal-mikroskopju. Mikroskopju ottiku huwa l-użu ta 'prinċipji ottiċi, l-għajn tal-bniedem ma tistax tiddistingwi l-oġġetti ċkejkna immaġini eżaltata, għan-nies biex estratt informazzjoni dwar il-mikrostruttura ta' strumenti ottiċi. Huwa użat ħafna fil-bijoloġija taċ-ċelluli. Mikroskopju ottiku ġeneralment jikkonsisti minn stadju, sistema ta 'illuminazzjoni li tiffoka, lenti oġġettiva, eyepiece u mekkaniżmu li jiffoka. L-istadju jintuża biex iżomm l-oġġett li jrid jiġi osservat. Il-pum li jiffoka jista 'jintuża biex isuq il-mekkaniżmu li jiffoka, sabiex l-istadju jkun jista' jiġi aġġustat b'mod oħxon jew irfinat biex jiffaċilita l-immaġni ċara tal-oġġett taħt osservazzjoni. L-immaġni tal-mikroskopju ottiku għall-immaġni maqluba (l fuq u 'l isfel rasu' l isfel, xellug u lemin interkambjabbli) mikroskopju elettroniku huwa t-twelid ta 'prodotti ta' teknoloġija high-end, u normalment nużaw il-mikroskopju ottiku għandu post simili, iżda mal-ottika mikroskopju huwa differenti ħafna. L-ewwelnett, mikroskopju ottiku huwa l-użu ta 'sors tad-dawl. Il-mikroskopju elettroniku huwa l-użu ta 'raġġi ta' elettroni, u t-tnejn jistgħu jaraw ir-riżultati tad-differenza, wieħed u jgħidu li l-ingrandiment tad-differenza, bħall-osservazzjoni ta 'ċellula, il-mikroskopju tad-dawl jista' jara biss iċ-ċellula u parti mill-organelle , bħall-mitokondrija u l-kloroplasti, iżda tista 'tara biss il-preżenza taċ-ċelloli tagħha, ma tistax tara l-istruttura speċifika tal-organelle. Mikroskopju elettroniku, min-naħa l-oħra, jista 'jara l-istruttura fina tal-organelli f'aktar dettall, u anke molekuli kbar bħal proteini. Mikroskopju elettroniku jinkludi mikroskopju elettroniku ta 'trasmissjoni, mikroskopju elettroniku tal-iskannjar, mikroskopju elettroniku ta' riflessjoni u mikroskopju elettroniku ta 'emissjoni. Fost dawn, il-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar jintuża b'mod aktar wiesa '. Il-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar fl-analiżi tal-materjali u l-applikazzjonijiet tar-riċerka huma wiesgħa ħafna, prinċipalment użati fl-analiżi tal-ksur tal-materjal, analiżi tal-kompożizzjoni tal-mikro-żona, varjetà ta 'analiżi tal-morfoloġija tal-wiċċ tal-kisi, kejl tal-ħxuna tas-saff u morfoloġija tal-mikrostruttura u analiżi nano-materjali jistgħu wkoll ikunu flimkien mad-diffrattometru tar-raġġi X jew l-ispettrometru tal-elettroni, li jikkostitwixxu l-mikroprobe elettroniku, użat għall-kompożizzjoni tal-analiżi tal-materjal u l-bqija. Scanning Electron Microscope, imqassar bħala SEC, huwa tip ġdid ta 'strument ottiku elettroniku. Tikkonsisti f'sistema ta 'vakwu, sistema ta' raġġ ta 'elettroni u sistema ta' immaġini. Juża raġġ ffokat fin ta 'elettroni biex jimmodula s-sinjali fiżiċi li huma eċċitati billi tiskennja l-wiċċ tal-kampjun. L-elettroni inċidentali jikkawżaw li l-wiċċ tal-kampjun jiġi eċċitat b'elettroni sekondarji. Huma dawn l-elettroni mferrxa f'kull punt li huma osservati mill-mikroskopju. Il-kristall ta 'tpetpet imqiegħed ħdejn il-kampjun jirċievi dawn l-elettroni sekondarji, li huma amplifikati biex jimmodulaw l-intensità tar-raġġ ta' l-elettroni tas-CRT, u jibdlu l-luminożità fuq l-iskrin tas-CRT. Il-coil tad-deflessjoni tas-CRT huwa sinkronizzat mar-raġġ tal-elettroni fuq il-wiċċ tal-kampjun, sabiex l-iskrin fluworexxenti tas-CRT juri immaġni topografika tal-wiċċ tal-kampjun. Għandu l-karatteristiċi ta 'preparazzjoni sempliċi tal-kampjun, ingrandiment aġġustabbli, firxa wiesgħa, riżoluzzjoni għolja tal-immaġni, u fond kbir ta' kamp. Prestazzjoni tal-applikazzjoni tal-mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni:
1, analiżi tad-difetti tal-kristall. L-istrutturi kollha li jeqirdu ċ-ċiklu normali tal-firxa huma kollettivament imsejħa difetti tal-kristall, bħal postijiet vakanti, dislokazzjonijiet, konfini tal-qamħ, preċipitati eċċ. Dawn l-istrutturi li jeqirdu l-perjodiċità tal-matriċi tat-tikek se jwasslu għal bidliet fil-kundizzjonijiet tad-diffrazzjoni tar-reġjun li jinsabu fih, li jagħmlu l-kundizzjonijiet tad-diffrazzjoni tar-reġjun li fih jinsabu d-difetti differenti mill-kundizzjonijiet tad-diffrazzjoni tar-reġjun normali, li se juri d-differenza korrispondenti bejn id-dawl u d-dlam fuq l-iskrin fluworexxenti.
2, analiżi tat-tessut. Minbarra d-difetti varji jistgħu jipproduċu mudelli ta 'diffrazzjoni differenti, li permezz tagħhom l-istruttura u l-orjentazzjoni tal-kristall jistgħu jiġu analizzati waqt li tiġi osservata l-morfoloġija tat-tessut.
3, Osservazzjoni in situ. Bl-użu tal-istadju tal-kampjun korrispondenti, jistgħu jitwettqu esperimenti in-situ fil-mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni. Pereżempju, l-użu ta 'kampjuni tat-tiġbid tar-razza biex josservaw il-proċess ta' deformazzjoni u ksur tagħhom.
4, mikroskopija b'riżoluzzjoni għolja. Ittejjeb ir-riżoluzzjoni sabiex tosserva aħjar il-mikrostruttura tal-materjal kien l-għan tan-nies li kontinwament isegwu. Mikroskopija elettronika b'riżoluzzjoni għolja li tuża l-fażi tar-raġġ ta 'l-elettroni tinbidel b'aktar minn żewġ raġġi ta' immaġini koerenti, fir-riżoluzzjoni tal-mikroskopju elettroniku hija kondizzjonijiet għolja biżżejjed, aktar raġġi ta 'elettroni jintużaw, iktar tkun għolja r-riżoluzzjoni ta' l-immaġni, u tista 'saħansitra tkun użat għal kampjuni rqaq ta 'l-immaġni ta' l-istruttura atomika.
