Karatteristiċi ta 'Scanning Probe Microscopes
Il-mikroskopija tas-sonda tal-iskannjar hija t-tielet mikroskopju għall-osservazzjoni tal-istruttura tal-materja fuq l-iskala atomika wara mikroskopija tal-jone tal-kamp u mikroskopija elettronika ta 'trasmissjoni b'riżoluzzjoni għolja. Meta tieħu l-Scanning Tunneling Microscope (STM) bħala eżempju, ir-riżoluzzjoni laterali tagħha hija 0.1~0.2nm, u r-riżoluzzjoni tal-fond vertikali tagħha hija 0.01nm. Riżoluzzjoni bħal din tista' tosserva b'mod ċar atomi jew molekuli singoli mqassma fuq il-wiċċ tal-kampjun. Fl-istess ħin, il-mikroskopju tas-sonda tal-iskannjar jista 'wkoll iwettaq riċerka ta' osservazzjoni fl-arja, gassijiet oħra jew ambjenti likwidi.
Il-mikroskopji tas-sonda tal-iskannjar għandhom il-karatteristiċi ta 'riżoluzzjoni atomika, trasport atomiku u nano-mikroproċessar. Madankollu, minħabba l-prinċipji tax-xogħol differenti ta 'mikroskopji tal-iskannjar varji fid-dettall, l-informazzjoni fuq il-wiċċ tal-kampjun riflessa mir-riżultati miksuba minnhom hija differenti ħafna. Il-mikroskopija tal-iskannjar tal-mini tkejjel l-informazzjoni tad-distribuzzjoni tal-istazzjonijiet tal-elettroni fuq il-wiċċ tal-kampjun, li għandu riżoluzzjoni fil-livell atomiku iżda xorta ma jistax jikseb l-istruttura vera tal-kampjun. Il-mikroskopju atomiku jiskopri l-informazzjoni ta 'interazzjoni bejn l-atomi, għalhekk tista' tinkiseb l-informazzjoni dwar l-arranġament tad-distribuzzjoni atomika fuq il-wiċċ tal-kampjun, jiġifieri, l-istruttura reali tal-kampjun. Iżda min-naħa l-oħra, il-mikroskopju tal-forza atomika ma jistax ikejjel l-informazzjoni tal-istat elettroniku li tista 'titqabbel mat-teorija, għalhekk it-tnejn għandhom il-vantaġġi u l-iżvantaġġi tagħhom stess.
