Mikroskopju Elettron Mikroskopju Ottiku Imaġini Prinċipju Xebh u Differenzi
Mikroskopju elettroniku huwa strument li juża raġġi tal-elettroni u lentijiet tal-elettroni minflok raġġi tad-dawl u lentijiet ottiċi biex jagħti immaġni tal-istrutturi fini tas-sustanzi f'ingrandimenti għoljin ħafna bbażati fuq il-prinċipju tal-ottika tal-elettroni.
Il-qawwa ta 'riżoluzzjoni ta' mikroskopju elettroniku hija rappreżentata mid-distanza minima bejn żewġ punti ħdejn xulxin li tista 'ssolvi. Fl-1970s, mikroskopji elettroniċi tat-trażmissjoni kellhom riżoluzzjoni ta 'madwar 0.3 nanometri (il-qawwa ta' riżoluzzjoni tal-għajn tal-bniedem hija ta 'madwar 0.1 millimetri). Issa l-ingrandiment massimu tal-mikroskopju elettroniku jaqbeż it-3 miljun darba, filwaqt li l-ingrandiment massimu tal-mikroskopju ottiku huwa ta 'madwar 2000 darba, għalhekk l-atomi ta' xi metalli tqal u l-kannizzati atomiċi rranġati pulit fil-kristall jistgħu jiġu osservati direttament permezz tal-mikroskopju elettroniku .
Fl-1931, Knorr-Bremse u Ruska tal-Ġermanja armaw mill-ġdid oxxilloskopju ta 'vultaġġ għoli b'sors ta' elettron ta 'skarika ta' katodu kiesaħ u tliet lentijiet ta 'elettroni, u kisbu immaġni eżaltata aktar minn għaxar darbiet, li kkonfermat il-possibbiltà ta' immaġni eżaltata bil-mikroskopju elettroniku. Fl-1932, wara t-titjib ta 'Ruska, il-qawwa tar-riżoluzzjoni tal-mikroskopju elettroniku laħqet 50 nanometru, madwar għaxar darbiet il-qawwa tar-riżoluzzjoni tal-mikroskopju ottiku f'dak iż-żmien, għalhekk il-mikroskopju elettroniku beda jirċievi l-attenzjoni tan-nies.
Fl-1940s, Hill fl-Istati Uniti uża astigmatizer biex jikkumpensa l-assimetrija rotazzjonali tal-lenti tal-elettroni, li għamlet avvanz ġdid fil-qawwa tar-riżoluzzjoni tal-mikroskopju elettroniku u gradwalment laħqet il-livell modern. Fiċ-Ċina, mikroskopju elettroniku ta 'trasmissjoni ġie żviluppat b'suċċess fl-1958 b'riżoluzzjoni ta' 3 nanometri, u fl-1979 ġie mmanifatturat mikroskopju elettroniku kbir b'riżoluzzjoni ta '0.3 nanometri.
Għalkemm il-qawwa tar-riżoluzzjoni tal-mikroskopju elettroniku hija ferm aħjar minn dik tal-mikroskopju ottiku, huwa diffiċli li jiġu osservati organiżmi ħajjin minħabba li l-mikroskopju elettroniku jeħtieġ li jaħdem taħt kundizzjonijiet tal-vakwu, u l-irradjazzjoni tar-raġġ tal-elettroni tikkawża wkoll li l-kampjuni bijoloġiċi tiġi mħassra bir-radjazzjoni. Kwistjonijiet oħra, bħat-titjib tal-luminożità tal-kanun tal-elettroni u l-kwalità tal-lenti tal-elettroni, jeħtieġu wkoll li jiġu studjati aktar.
Il-qawwa tar-riżoluzzjoni hija indikatur importanti tal-mikroskopija elettronika, li hija relatata mal-angolu tal-kon inċidentali u t-tul tal-mewġ tar-raġġ tal-elettroni li jgħaddi mill-kampjun. Il-wavelength tad-dawl viżibbli huwa madwar {{0}} nanometri, filwaqt li l-wavelength tar-raġġi tal-elettroni huwa relatat mal-vultaġġ li jaċċellera. Meta l-vultaġġ ta 'aċċellerazzjoni huwa 50-100 kV, il-wavelength tar-raġġ tal-elettroni huwa madwar 0.0053-0.0037 nanometri. Peress li l-wavelength tar-raġġ tal-elettroni huwa ħafna iżgħar mill-wavelength tad-dawl viżibbli, anke jekk l-angolu tal-koni tar-raġġ tal-elettroni huwa biss 1 fil-mija ta 'dak tal-mikroskopju ottiku, il-qawwa ta' riżoluzzjoni tal-mikroskopju elettroniku għadha ferm superjuri għal dik tal-mikroskopju ottiku.
