Differenzi bejn mikroskopji elettroniċi u mikroskopji metallografiċi
Prinċipji ta 'Scanning Electron Microscopy
Scanning Electron Microscope (SEM), imqassar bħala SEM, hija sistema kumplessa; tikkondensa t-teknoloġija ottika tal-elettroni, it-teknoloġija tal-vakwu, l-istruttura mekkanika fina u t-teknoloġija moderna tal-kontroll tal-kompjuter. Il-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar jiġbor l-elettroni emess mill-kanun tal-elettroni f'raġġ ta 'elettroni fin permezz ta' lenti elettromanjetika f'diversi stadji taħt l-azzjoni ta 'vultaġġ għoli aċċellerat. Skennja l-wiċċ tal-kampjun biex tistimula informazzjoni varji, u tanalizza l-wiċċ tal-kampjun billi tirċievi, tamplifika u turi l-informazzjoni. L-interazzjoni tal-elettroni inċidentali mal-kampjun tipproduċi t-tipi ta 'informazzjoni murija fil-Figura 1. Id-distribuzzjoni tal-intensità bidimensjonali ta' din l-informazzjoni tinbidel mal-karatteristiċi tal-wiċċ tal-kampjun (dawn il-karatteristiċi jinkludu morfoloġija tal-wiċċ, kompożizzjoni, orjentazzjoni tal-kristall, proprjetajiet elettromanjetiċi , eċċ.), u l-informazzjoni miġbura minn diversi ditekters tiġi kkonvertita b'mod sekwenzjali u proporzjonali Sinjal tal-vidjo jintbagħat lil tubu tal-istampa skennjat b'mod sinkroniku u l-luminożità tiegħu hija modulata biex tinkiseb immaġni ta 'skan li tirrifletti l-kundizzjoni tal-wiċċ tal-kampjun. Jekk is-sinjal riċevut mid-ditekter jiġi diġitizzat u kkonvertit f'sinjal diġitali, jista 'jiġi pproċessat u maħżun aktar minn kompjuter. Il-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar jintuża prinċipalment biex josserva kampjuni ħoxnin b'differenza kbira ta 'għoli u ħruxija, għalhekk l-effett tal-fond tal-kamp huwa enfasizzat fid-disinn, u ġeneralment jintuża biex janalizza ksur u uċuħ naturali li ma ġewx ipproċessati b'mod artifiċjali.
Mikroskopju Elettroniku u Mikroskopju Metallografiku
1. Sorsi tad-dawl differenti: mikroskopji metallografiċi jużaw dawl viżibbli bħala s-sors tad-dawl, u mikroskopji elettroniċi tal-iskannjar jużaw raġġi tal-elettroni bħala s-sors tad-dawl għall-immaġini.
2. Il-prinċipju huwa differenti: il-mikroskopju metallografiku juża l-prinċipju tal-immaġni ottika ġeometrika għall-immaġini, u l-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar juża raġġi tal-elettroni ta 'enerġija għolja biex jibbumbardja l-wiċċ tal-kampjun biex jistimula diversi sinjali fiżiċi fuq il-wiċċ tal-kampjun, u mbagħad juża differenti ditekters tas-sinjali biex jirċievu sinjali fiżiċi u jaqilbuhom f'informazzjoni dwar l-immaġini.
3. Ir-riżoluzzjoni hija differenti: minħabba l-interferenza u d-diffrazzjoni tad-dawl, ir-riżoluzzjoni tal-mikroskopju metallografiku tista 'tkun limitata biss għal 0.2-0.5um. Minħabba li l-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar juża raġġi tal-elettroni bħala s-sors tad-dawl, ir-riżoluzzjoni tiegħu tista' tilħaq bejn 1-3nm. Għalhekk, l-osservazzjoni tat-tessuti tal-mikroskopju metallografiku tappartjeni għal analiżi fuq skala mikron, u l-osservazzjoni tat-tessuti tal-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar tappartjeni għal analiżi fuq skala nano.
4. Il-fond tal-kamp huwa differenti: il-fond tal-kamp ta 'mikroskopju metallografiku ġenerali huwa bejn 2-3um, għalhekk għandu rekwiżiti estremament għoljin fuq l-intoppi tal-wiċċ tal-kampjun, għalhekk il-proċess tal-preparazzjoni tal-kampjun huwa relattivament ikkumplikat. Il-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar għandu fond kbir ta 'kamp, kamp viżiv kbir, u immaġini tridimensjonali, li jistgħu josservaw direttament l-istruttura fina tal-wiċċ irregolari ta' diversi kampjuni.
