+86-18822802390

Differenza bejn mikroskopju elettroniku mikroskopju metallurġiku

Jan 06, 2024

Differenza bejn mikroskopju elettroniku mikroskopju metallurġiku

 

L-ewwel mikroskopju elettroniku fid-dinja nbena f'Berlin fl-1931 minn M. Knoil u E. Rusk billi adattaw oxxilloskopju tat-tubu tad-dell b'veloċità għolja li jista 'jinqala' bi tliet lentijiet, mikroskopju elettroniku ta' trażmissjoni li juża sors elettroniku ta' katodu kiesaħ, u fl-1934 M. Knoil u E. Rusk żied ir-riżoluzzjoni għal 500 Å. Il-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar (SEM), imqassar SEM, huwa sistema kumplessa li tikkondensa tekniki elettron-ottiċi, tekniki tal-vakwu, u strutturi mekkaniċi fini.


Scanning Electron Microscope (Scanning ElectronMicroscope), imqassar bħala SEM, hija sistema kumplessa; teknoloġija tal-vakwu tat-teknoloġija elettron-ottika kondensata, struttura mekkanika fina u teknoloġija moderna tal-kontroll tal-kompjuter. SEM huwa effett aċċellerat ta 'vultaġġ għoli tal-kanun tal-elettroni emess mill-elettron permezz ta' konverġenza ta 'lenti elettromanjetika f'diversi stadji f'raġġ żgħir ta' elettroni. Skanjar fil-wiċċ tal-kampjun, eċċitazzjoni ta 'varjetà ta' informazzjoni, permezz tar-riċeviment ta 'din l-informazzjoni, amplifikazzjoni u immaġni tal-wiri, sabiex tanalizza l-wiċċ tal-kampjun. L-interazzjoni tal-elettroni inċidentali mal-kampjun tipproduċi t-tipi ta 'informazzjoni murija fil-Figura 1. Id-distribuzzjoni tal-intensità bidimensjonali ta' din l-informazzjoni tvarja bil-karatteristiċi tal-wiċċ tal-kampjun (dawn il-karatteristiċi huma morfoloġija tal-wiċċ, kompożizzjoni, orjentazzjoni tal-kristall, proprjetajiet elettromanjetiċi , eċċ.), hija varjetà ta 'ditekters biex jiġbru l-informazzjoni fl-ordni, il-proporzjon ta' l-informazzjoni maqluba f'sinjal tal-vidjo, u mbagħad trażmess għall-iskannjar simultanju tat-tubu ta 'l-istampa u l-modulazzjoni tal-luminożità tiegħu, tista' tikseb rispons mal-wiċċ tal-mappa tal-iskannjar tal-kampjun. Jekk is-sinjal riċevut mid-ditekter jiġi diġitizzat u kkonvertit f'sinjal diġitali, jista 'jiġi pproċessat u maħżun aktar minn kompjuter. Mikroskopji elettroniċi tal-iskannjar huma prinċipalment iddisinjati għall-osservazzjoni ta 'kampjuni ta' blokki ħoxnin b'differenzi kbar ta 'għoli u irregolarità mhux maħduma, u għalhekk huma ddisinjati biex jenfasizzaw l-effett tal-fond tal-kamp, ​​u ġeneralment jintużaw biex janalizzaw ksur kif ukoll uċuħ naturali li ma jkunux ġew ittrattati artifiċjalment.


Mikroskopju elettroniku u mikroskopju metallurġiku
L-ewwel, is-sors tad-dawl huwa differenti: mikroskopju metallurġiku li juża dawl viżibbli bħala sors tad-dawl, mikroskopju elettroniku tal-iskannjar li juża raġġ tal-elettroni bħala immaġni tas-sors tad-dawl.


It-tieni, il-prinċipju huwa differenti: mikroskopju metallurġiku li juża l-prinċipju ta 'l-immaġini ta' l-ottika ġeometrika għall-immaġini, mikroskopju elettroniku ta 'skannjar li juża bumbardament ta' raġġ ta 'elettroni ta' enerġija għolja tal-wiċċ tal-kampjun, eċċitazzjoni ta 'varjetà ta' sinjali fiżiċi fuq il-wiċċ tal-kampjun, u mbagħad l-użu ta 'ditekters tas-sinjali differenti biex jaċċettaw is-sinjali fiżiċi kkonvertiti f'informazzjoni dwar l-immaġni.


It-tielet, ir-riżoluzzjoni hija differenti: mikroskopju metallurġiku minħabba l-interferenza u d-diffrazzjoni tad-dawl, ir-riżoluzzjoni tista 'tkun limitata biss għal 0.2-0.5um bejn. Mikroskopju elettroniku tal-iskannjar minħabba li l-użu tar-raġġ tal-elettroni bħala sors tad-dawl, ir-riżoluzzjoni tista 'tilħaq bejn 1-3nm, għalhekk l-osservazzjoni tat-tessuti tal-mikroskopju metallurġiku tappartjeni għall-analiżi tal-livell tal-mikron, l-osservazzjoni tat-tessut tal-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar tappartjeni għal-livell nanometru analiżi.


Ir-raba ', il-fond tal-kamp huwa differenti: mikroskopju metallurġiku ġenerali fond tal-kamp bejn 2-3um, għalhekk l-intoppi tal-wiċċ tal-kampjun għandu grad għoli ħafna ta' rekwiżiti, għalhekk il-proċess ta 'kampjunar tiegħu huwa relattivament kumpless. Filwaqt li l-mikroskopju elettroniku tal-iskannjar għandu fond kbir ta 'kamp, ​​kamp viżiv kbir, immaġini rikki f'sens tridimensjonali, jista' josserva direttament varjetà ta 'kampjuni mikrostruttura tal-wiċċ irregolari.

 

GD4310 -1

Ibgħat l-inkjesta