Differenza bejn mikroskopija konfokali u mikroskopija fluworexxenti
Il-mikroskopju fluworexxenti jintuża prinċipalment fil-qasam bijoloġiku u r-riċerka medika, li jista 'jikseb immaġini fluworexxenti tal-mikrostruttura interna ta' ċelloli jew tessuti, josserva sinjali fiżjoloġiċi bħal Ca2+, valur PH, potenzjal tal-membrana u bidliet fil-morfoloġija taċ-ċelluli fil- livell subċellulari, u hija ġenerazzjoni ġdida ta 'għodod ta' riċerka qawwija fil-morfoloġija, bijoloġija molekulari, newroxjenza, farmakoloġija, ġenetika u oqsma oħra
Il-mikroskopija Confocal ibbażata fuq il-prinċipju tat-teknoloġija confocal hija strument tal-ittestjar użat biex ikejjel il-wiċċ ta 'diversi apparati u materjali ta' preċiżjoni fil-livell mikro u nano.
L-għan tax-xjenza tal-materjali huwa li tistudja l-influwenza tal-istruttura tal-wiċċ tal-materjal fuq il-proprjetajiet tal-wiċċ tagħha. Għalhekk, analiżi ta 'riżoluzzjoni għolja tal-morfoloġija tal-wiċċ hija ta' sinifikat kbir biex jiġu ddeterminati parametri rilevanti bħal ħruxija tal-wiċċ, proprjetajiet li jirriflettu, proprjetajiet triboloġiċi u kwalità tal-wiċċ. It-teknoloġija konfokali tista 'tkejjel diversi materjali b'karatteristiċi ta' riflessjoni tal-wiċċ u tikseb data ta 'kejl effettiva.
Il-mikroskopija konfokali hija bbażata fuq teknoloġija tal-mikroskopija konfokali, flimkien ma 'modulu ta' preċiżjoni Z-scan, algoritmu tal-immudellar 3D, eċċ., Li jista 'jwettaq skanjar mingħajr kuntatt fuq il-wiċċ tal-apparat u jistabbilixxi immaġni 3D tal-wiċċ biex jirrealizza kejl 3D tat-topografija tal-wiċċ tal-apparat. Fil-qasam tal-ittestjar tal-produzzjoni tal-materjal, huwa possibbli li jitkejlu u jiġu analizzati l-karatteristiċi tal-morfoloġija tal-wiċċ ta 'diversi prodotti, komponenti u materjali, inkluż profil tal-wiċċ, difetti tal-wiċċ, xedd, korrużjoni, flatness, ħruxija, waviness, vojt tal-pori, għoli tal-pass , deformazzjoni tal-liwi, u kundizzjonijiet tal-ipproċessar.
applikazzjoni
1. MEMS
Kejl tad-daqs ta 'komponenti ta' livell mikron u submicron, osservazzjoni tal-morfoloġija tal-wiċċ u analiżi tad-difetti wara diversi proċessi (żvilupp, inċiżjoni, metallizzazzjoni, CVD, PVD, CMP, eċċ.).
2. Komponenti mekkaniċi ta 'preċiżjoni u apparat elettroniku
Kejl tad-daqs ta 'komponenti ta' livell mikron u submicron, proċessi varji ta 'trattament tal-wiċċ, osservazzjoni tal-morfoloġija tal-wiċċ wara proċessi ta' wweldjar, analiżi tad-difetti, u analiżi tal-partiċelli.
3. Semikondutturi/LCD
Osservazzjoni tal-morfoloġija tal-wiċċ, analiżi tad-difetti, kejl mingħajr kuntatt tal-wisa 'tal-linja, fond tal-pass, eċċ wara diversi proċessi (żvilupp, inċiżjoni, metallizzazzjoni, CVD, PVD, CMP, eċċ.).
4. Inġinerija tal-wiċċ bħal triboloġija u korrużjoni
Kejl tal-volum ta 'marki ta' xedd, kejl tal-ħruxija, morfoloġija tal-wiċċ, korrużjoni, u morfoloġija tal-wiċċ wara inġinerija tal-wiċċ sub micron.
