+86-18822802390

Struttura tas-Sistema tal-Mikroskopija tal-Forza Atomika (AFM).

Jul 05, 2024

Struttura tas-Sistema tal-Mikroskopija tal-Forza Atomika (AFM).

 

1. Sezzjoni tas-sejbien tal-forza:
Fis-sistema tal-mikroskopija tal-forza atomika (AFM), il-forza li għandha tiġi skoperta hija l-forza ta 'van der Waals bejn l-atomi. Allura f'din is-sistema, cantilever jintuża biex jiskopri l-bidliet fis-seħħ bejn l-atomi. Dan il-cantilever mikro għandu ċerti speċifikazzjonijiet, bħal tul, wisa ', koeffiċjent ta' elastiċità, u forma tal-ponta tal-labra, u l-għażla ta 'dawn l-ispeċifikazzjonijiet hija bbażata fuq il-karatteristiċi tal-kampjun u modi operattivi differenti, u jintgħażlu tipi differenti ta' sondi.


2 Sezzjoni ta' skoperta tal-pożizzjoni:
Fis-sistema tal-mikroskopija tal-forza atomika (AFM), meta jkun hemm interazzjoni bejn il-ponta tal-labra u l-kampjun, il-cantilever tal-cantilever jitbandal. Għalhekk, meta l-laser jiġi irradjat fit-tarf tal-cantilever, il-pożizzjoni tad-dawl rifless se tinbidel ukoll minħabba t-tbandil tal-cantilever, li jirriżulta fil-ġenerazzjoni ta 'offset. Fis-sistema kollha, id-ditekter tal-pożizzjoni tal-post tal-lejżer jintuża biex jirreġistra l-offset u jikkonvertih f'sinjal elettriku għall-ipproċessar tas-sinjali mill-kontrollur SPM.


3 Sistema ta 'feedback:
Fis-sistema tal-mikroskopju tal-forza atomika (AFM), wara li s-sinjal jittieħed minn ditekter tal-lejżer, jintuża bħala sinjal ta 'feedback fis-sistema ta' feedback bħala sinjal ta 'aġġustament intern, u jmexxi l-iskaner ġeneralment magħmul minn tubi taċ-ċeramika pjeżoelettriċi biex jiċċaqlaq xieraq biex tinżamm il-forza xierqa bejn il-kampjun u l-ponta tal-labra.


Il-mikroskopija tal-forza atomika (AFM) tgħaqqad it-tliet partijiet ta 'hawn fuq biex tippreżenta l-karatteristiċi tal-wiċċ tal-kampjun: fis-sistema AFM, tintuża cantilever ċkejkna biex tħoss l-interazzjoni bejn il-ponta tal-labra u l-kampjun. Din il-forza tikkawża li l-cantilever jitbandal, u mbagħad il-laser jintuża biex irradja t-tarf tal-cantilever. Meta t-tbandil jiġi ffurmat, il-pożizzjoni tad-dawl rifless tinbidel, u tikkawża offset. F'dan iż-żmien, id-ditekter tal-lejżer se jirreġistra dan l-offset u jipprovdi wkoll lis-sistema ta 'feedback bis-sinjal f'dan il-ħin biex jiffaċilita l-aġġustament xieraq tas-sistema. Fl-aħħarnett, il-karatteristiċi tal-wiċċ tal-kampjun se jiġu ppreżentati fil-forma ta 'immaġni.

 

2 Electronic Microscope

 

 

Ibgħat l-inkjesta