Applikazzjonijiet u karatteristiċi tal-mikroskopija elettronika tat-Trażmissjoni
Il-mikroskopija elettronika tat-trażmissjoni (TEM) hija mikroskopju b'riżoluzzjoni għolja użat biex josserva l-istruttura interna tal-kampjuni. Jutilizza raġġ ta 'elettroni biex jippenetra l-kampjun u jifforma immaġni proġettata, li mbagħad tiġi interpretata u analizzata biex tiżvela l-mikrostruttura tal-kampjun.
1. Sors elettroniku
TEM juża raġġ ta 'elettroni minflok raġġ ta' dawl. Il-mikroskopju elettroniku tat-trażmissjoni tas-serje Talos mgħammar minn Jifeng Electronic MA Laboratory juża gun ta 'elettroni ta' luminożità ultra-għolja, filwaqt li l-mikroskopju elettroniku ta 'trasmissjoni ta' aberrazzjoni sferika HF5000 juża gun ta 'elettroni ta' kamp kiesaħ.
2. Sistema tal-vakwu
Biex tiġi evitata l-interazzjoni bejn ir-raġġ tal-elettroni u l-gass qabel ma jgħaddi mill-kampjun, il-mikroskopju kollu għandu jinżamm taħt kundizzjonijiet ta 'vakwu għoli.
3. Kampjun tat-trasmissjoni
Il-kampjun għandu jkun trasparenti, li jfisser li r-raġġ ta 'l-elettroni jista' jippenetrah, jinteraġixxi miegħu, u jifforma immaġni proġettata. Tipikament, il-ħxuna tal-kampjun tvarja minn nanometri sa submicrons. Jifeng Electronics hija mgħammra b'għexieren ta 'FIBs tas-serje Helios 5 għall-preparazzjoni ta' kampjuni TEM ultra-rqaq ta 'kwalità għolja.
4. Sistema ta 'trasmissjoni elettronika
Ir-raġġ ta 'l-elettroni huwa ffukat permezz ta' sistema ta 'trażmissjoni. Dawn il-lentijiet huma simili għal-lentijiet fil-mikroskopji ottiċi, iżda minħabba l-wavelength ħafna iqsar ta 'elettroni meta mqabbla mal-mewġ tad-dawl, ir-rekwiżiti tad-disinn u l-manifattura għal-lentijiet huma ogħla.
5. Pjan tal-immaġni
Wara li jgħaddi mill-kampjun, ir-raġġ tal-elettroni jidħol fi pjan tal-immaġni. Fuq dan il-pjan, l-informazzjoni tar-raġġ tal-elettroni tiġi kkonvertita f'immaġni u tinqabad mid-ditekter.
6. Detector
L-aktar ditekters komuni huma skrins fluworexxenti, kameras CCD (charge coupled device), jew kameras CMOS (apparat semikonduttur tal-ossidu tal-metall komplementari). Meta raġġ ta 'elettroni jinteraġixxi ma' skrin fluworexxenti fuq il-pjan ta 'l-immaġni, jiġi ġġenerat dawl viżibbli, li jifforma immaġni proġettata tal-kampjun, li tintuża komunement biex jinstab il-kampjun. Minħabba l-ħtieġa li skrins fluworexxenti jintużaw f'ambjent ta 'kamra mudlama, li ma jkunx faċli għall-utent għat-tħaddim tal-utent, il-manifatturi attwali se jinstallaw kamera 'l fuq mill-ġenb tal-iskrin fluworexxenti, li tippermetti lill-operaturi TEM josservaw il-wiri b'mod qawwi. ambjent għat-tiftix ta 'kampjuni, inklinazzjoni tax-xaft taċ-ċinturin, u operazzjonijiet oħra. Dan it-titjib inconspicuous huwa l-pedament biex tinkiseb separazzjoni bejn il-bniedem u l-magna.
7. Formazzjoni tal-immaġni
Meta r-raġġ ta 'l-elettroni jgħaddi mill-kampjun, jinteraġixxi ma' l-atomi u l-istruttura tal-kristall ġewwa l-kampjun, ixerred u jassorbi. Ibbażat fuq dawn l-interazzjonijiet, l-intensità tar-raġġ tal-elettroni se tifforma immaġni fuq il-pjan tal-immaġni. Dawn l-immaġini huma kollha immaġini ta 'projezzjoni bidimensjonali, iżda l-istruttura interna tal-kampjun ħafna drabi hija tridimensjonali, għalhekk għandha tingħata attenzjoni speċjali għal dan meta tiġi analizzata l-informazzjoni dettaljata ġewwa l-kampjun.
8. Analiżi u Interpretazzjoni
Billi josservaw u janalizzaw l-immaġini, ir-riċerkaturi jistgħu jifhmu l-istruttura tal-kristall tal-kampjun, il-parametri tal-kannizzata, id-difett kristallografiku, l-arranġament atomiku u informazzjoni oħra dwar il-mikrostruttura. Ji Feng għandu tim professjonali ta 'analiżi tal-materjal li jista' jipprovdi lill-klijenti b'soluzzjonijiet sħaħ ta 'analiżi tal-proċess u rapporti professjonali ta' analiżi tal-materjal.
