Applikazzjoni ta 'Mikroskopju Infrared f'Apparat Mikro fl-Industrija Elettronika
Direzzjoni tal-applikazzjoni: il-funzjoni tal-mikroskopju infra-aħmar fil-kejl tat-temperatura ta 'apparati mikro semikondutturi.
It-tieni, l-isfond:
Bl-iżvilupp tan-nanoteknoloġija, il-minjaturizzazzjoni minn fuq għal isfel tagħha ġiet applikata dejjem aktar fil-qasam tat-teknoloġija tas-semikondutturi. Konna nsejħu teknoloġija IC "mikroelettronika", minħabba li d-daqs tat-transistors huwa fil-livell tal-mikron (10-6 metri). Madankollu, it-teknoloġija tas-semikondutturi qed tiżviluppa malajr ħafna, u se timxi b'ġenerazzjoni waħda kull sentejn, u d-daqs tagħha se jitnaqqas għal nofs id-daqs oriġinali tagħha. Din hija l-famuża Liġi ta’ Moore. Madwar 15-il sena ilu, is-semikondutturi bdew jidħlu fl-era ta 'sub-micron, jiġifieri inqas minn mikron, u mbagħad kien hemm era ta' sub-micron profond u ħafna iżgħar minn mikron. Sa 2001, id-daqs tat-transistor kien saħansitra inqas minn 0.1 mikron, jiġifieri inqas minn 100 nanometru. Għalhekk, hija l-era tan-nano-elettronika, u l-biċċa l-kbira tal-IC futur se tkun magħmula minn nano-teknoloġija.
It-tielet, ir-rekwiżiti tekniċi:
Fil-preżent, il-forma ewlenija ta 'falliment ta' apparat elettroniku hija falliment termali. Skont l-istatistika, 55% tal-ħsarat fl-apparat elettroniku huma kkawżati mit-temperatura li taqbeż il-valur speċifikat. Biż-żieda fit-temperatura, ir-rata ta 'falliment ta' apparat elettroniku tiżdied b'mod esponenzjali. B'mod ġenerali, l-affidabilità tax-xogħol tal-komponenti elettroniċi hija estremament sensittiva għat-temperatura, u l-affidabilità tonqos b'5% għal kull żieda ta 'grad 1 tat-temperatura tal-apparat fil-livell ta' 70-80 gradi. Għalhekk, huwa meħtieġ li t-temperatura tal-apparat tiġi skoperta malajr u b'mod affidabbli. Peress li d-daqs tal-apparat semikonduttur qed isir dejjem iżgħar, jitressqu rekwiżiti ogħla għar-riżoluzzjoni tat-temperatura u r-riżoluzzjoni spazjali tat-tagħmir ta 'skoperta.
Ir-raba ', rimja l-mappa tas-sħana fuq il-post (post: mudell magħruf ta' istitut ta 'riċerka xjentifika: INNOMETE SI330)
