Analiżi qasira tal-prinċipji u l-applikazzjonijiet tad-DIC f'mikroskopji metallografiċi....
Meta kulħadd qed jagħmel osservazzjoni tal-mikroskopju metallografiku, hemm metodu ta 'osservazzjoni msejjaħ metodu ta' kuntrast ta 'interferenza differenzjali, imsejjaħ ukoll metodu ta' osservazzjoni DIC. Dan huwa metodu relattivament avvanzat li bħalissa jintuża biss f'tagħmir ta 'marka barranija. Il-prinċipju speċifiku huwa kif ġej: Introduċih.
Komponenti meħtieġa għal mikroskopju metallografiku: polarizzatur, analizzatur, ċippa DIC ta 'interferenza differenzjali (magħmula minn ġebel glaċjali).
Il-polarizzaturi u l-analizzaturi huma komponenti bażiċi ta 'appoġġ indispensabbli fl-osservazzjoni tad-dawl polarizzat ortogonali ta' kampjuni metallografiċi. Huma mmuntati fl-assemblaġġ tal-illuminazzjoni tal-kamp qawwi/dlam u huma wkoll komponenti indispensabbli għall-metodu tal-kuntrast tal-interferenza differenzjali. Il-polarizzatur ta 'mikroskopju metallografiku jibdel is-sors tad-dawl f'dawl polarizzat lineari li jivvibra fid-direzzjoni tal-lvant-punent; l-analizzatur jista 'jinterferixxi ma' dawl koerenti li jissodisfa l-kundizzjonijiet ta 'interferenza.
Il-pjanċa DIC ta 'interferenza differenzjali ta' mikroskopju metallografiku hija l-komponent ewlieni tal-metodu ta 'kuntrast ta' interferenza differenzjali. Il-ħxuna tagħha tinbidel ftit, u tikkawża bidliet ħfief fil-passaġġ ottiku jew id-differenza fil-passaġġ ottiku, u tipproduċi effett ta 'kuntrast ta' interferenza ovvju;
Applikazzjonijiet ta' folji DIC ta' interferenza differenzjali f'mikroskopji metallografiċi:
Osserva l-partiċelli, xquq, toqob u nefħa fuq il-wiċċ ta 'l-oġġett, li jidhru f'eżenzjoni, u tista' tagħmel ġudizzji korretti.
Ir-rekwiżiti tal-wiċċ ta 'xi biċċiet tax-xogħol huma mnaqqsa. Sakemm l-illustrar ma jeħtieġx korrużjoni, jista 'jidher is-solliev tat-trasformazzjoni tal-fażi tal-martensite.
Osserva xi bidliet fil-partiċelli tal-wiċċ, bħall-osservazzjoni tal-joni konduttivi, eċċ.
Permezz tal-ispjegazzjoni ta 'hawn fuq, nemmen li kulħadd għandu ċertu fehim tal-prinċipju u l-applikazzjoni ta' folji DIC ta 'interferenza differenzjali f'mikroskopji metallografiċi.
